A simple Monte Carlo model is used to simulate the avalanche process in a multiplication region which incorporates a heterojunction, intended to introduce localization into the ionization process and reduce excess avalanche noise. The results are compared with those of models where the ionization path length distribution is represented by an exponential decay, displaced from the origin by a ballistic dead space. While the latter results depend sensitively on the arbitrary choice of scheme used to evaluate the model parameters, they agree remarkably well with Monte Carlo, considering the simplicity of the model.
REFERENCES
1.
D. C.
Herbert
, C. J.
Williams
, and M.
Jaros
, Electron. Lett.
32
, 1616
(1996
).2.
P.
Yuan
, S.
Wang
, X. G.
Sun
, A. L.
Homes
, and J. C.
Campbell
, IEEE Photonics Technol. Lett.
12
, 1370
(2000
).3.
S.
Wang
, R.
Sidhu
, X. G.
Zheng
, X.
Li
, X.
Sun
, A. L.
Holmes
, and J. C.
Campbell
, IEEE Photonics Technol. Lett.
13
, 1346
(2001
).4.
F.
Ma
, S.
Wang
, X.
Li
, K. A.
Anselm
, X. G.
Zheng
, A. L.
Holmes
, and J. C.
Campbell
, J. Appl. Phys.
92
, 4791
(2002
).5.
S.
Wang
, J. B.
Hurst
, F.
Ma
, X.
Sun
, X. G.
Zheng
, A. L.
Holmes
, A.
Huntingdon
, L. A.
Coldren
, and J. C.
Campbell
, IEEE Photonics Technol. Lett.
14
, 1722
(2002
).6.
S.
Wang
, F.
Ma
, X.
Li
, R.
Sidhu
, X. G.
Zheng
, X.
Sun
, A. L.
Holmes
, and J. C.
Campbell
, IEEE J. Quantum Electron.
39
, 375
(2003
).7.
C. K.
Chia
, J. P. R.
David
, G. J.
Rees
, P. N.
Robson
, S. A.
Plimmer
, and R.
Grey
, Appl. Phys. Lett.
71
, 3877
(1997
).8.
C. K.
Chia
, J. P. R.
David
, G. J.
Rees
, S. A.
Plimmer
, R.
Grey
, and P. N.
Robson
, J. Appl. Phys.
84
, 4363
(1998
).9.
M. M.
Hayat
, O. H.
Kwon
, S.
Wang
, J. C.
Campbell
, B. E. A.
Saleh
, and M. C.
Teich
, IEEE Trans. Electron Devices
49
, 2114
(2002
).10.
11.
O. H.
Kwon
, M. M.
Hayat
, S.
Wang
, J. C.
Campbell
, A. L.
Holmes
, Y.
Pan
, B. E. A.
Saleh
, and M. C.
Teich
, IEEE J. Quantum Electron.
39
, 1287
(2003
).12.
M. M.
Hayat
, B. A. E.
Saleh
, and M. C.
Teich
, IEEE Trans. Electron Devices
39
, 546
(1992
).13.
D. S.
Ong
, K. F.
Li
, G. J.
Rees
, J. P. R.
David
, and P. N.
Robson
, J. Appl. Phys.
83
, 3426
(1998
).14.
M. A.
Saleh
, M. M.
Hayat
, B. E. A.
Saleh
, and M. C.
Teich
, IEEE Trans. Electron Devices
47
, 625
(2000
).15.
P.
Yuan
, C. C.
Hansing
, K. A.
Anselm
, C. V.
Lenox
, H.
Nie
, A. L.
Holmes
, B. C.
Streetman
, and J. C.
Campbell
, IEEE Trans. Electron Devices
36
, 198
(2000
).16.
B.
Jacob
, P. N.
Robson
, J. P. R.
David
, and G. J.
Rees
, J. Appl. Phys.
90
, 1314
(2001
).17.
18.
S. A.
Plimmer
, J. P. R.
David
, D. S.
Ong
, and K. F.
Li
, IEEE Trans. Electron Devices
46
, 769
(1999
).19.
C. H.
Tan
, R.
Ghin
, J. P. R.
David
, G. J.
Rees
, and M.
Hopkinson
, Semicond. Sci. Technol.
18
, 803
(2003
).20.
S. A.
Plimmer
, C. H.
Tan
, J. P. R.
David
, R.
Grey
, K. F.
Li
, and G. J.
Rees
, Appl. Phys. Lett.
75
, 2963
(1999
).21.
P. J.
Hambleton
, B. K.
Ng
, S. A.
Plimmer
, J. P. R.
David
, and G. J.
Rees
, IEEE Trans. Electron Devices
50
, 347
(2003
).22.
P. J.
Hambleton
, S. A.
Plimmer
, J. P. R.
David
, and G. J.
Rees
, IEE Proc.: Optoelectron.
150
, 167
(2003
).23.
C.
Groves
, J. P. R.
David
, and G. J.
Rees
, Semicond. Sci. Technol.
18
, 689
(2003
).24.
K.
Czajkowski
, J.
Allam
, and A. R.
Adams
, Electron. Lett.
26
, 1311
(1990
).25.
26.
27.
28.
29.
K. F.
Li
, D. S.
Ong
, J. P. R.
David
, G. J.
Rees
, R. C.
Tozer
, P. N.
Robson
, and R.
Grey
, IEEE Trans. Electron Devices
45
, 2102
(1998
).30.
C. H.
Tan
, J. P. R.
David
, S. A.
Plimmer
, G. J.
Rees
, R. C.
Tozer
, and R.
Grey
, IEEE Trans. Electron Devices
48
, 1310
(2001
).31.
A.
Spinelli
and A. L.
Lacaita
, IEEE Trans. Electron Devices
43
, 23
(1996
).32.
D. S.
Ong
, J. P. R.
David
, and G. J.
Rees
, J. Appl. Phys.
93
, 4232
(2003
).33.
D. S.
Ong
, K. F.
Li
, S. A.
Plimmer
, G. J.
Rees
, J. P. R.
David
, and P. N.
Robson
, J. Appl. Phys.
87
, 7885
(2000
).34.
B. K.
Ng
, J. P. R.
David
, G. J.
Rees
, R. C.
Tozer
, M.
Hopkinson
, and A. J.
Airey
, IEEE Trans. Electron Devices
49
, 2349
(2002
).
This content is only available via PDF.
© 2004 American Institute of Physics.
2004
American Institute of Physics
You do not currently have access to this content.