Recent advances in the theory and experimental realization of ferromagnetic semiconductors give hope that a new generation of microelectronic devices based on the spin degree of freedom of the electron can be developed. This review focuses primarily on promising candidate materials (such as GaN, GaP and ZnO) in which there is already a technology base and a fairly good understanding of the basic electrical and optical properties. The introduction of Mn into these and other materials under the right conditions is found to produce ferromagnetism near or above room temperature. There are a number of other potential dopant ions that could be employed (such as Fe, Ni, Co, Cr) as suggested by theory [see, for example, Sato and Katayama-Yoshida, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2 39, L555 (2000)]. Growth of these ferromagnetic materials by thin film techniques, such as molecular beam epitaxy or pulsed laser deposition, provides excellent control of the dopant concentration and the ability to grow single-phase layers. The mechanism for the observed magnetic behavior is complex and appears to depend on a number of factors, including Mn–Mn spacing, and carrier density and type. For example, in a simple Ruderman–Kittel–Kasuya–Yosida carrier-mediated exchange mechanism, the free-carrier/Mn ion interaction can be either ferromagnetic or antiferromagnetic depending on the separation of the Mn ions. Potential applications for ferromagnetic semiconductors and oxides include electrically controlled magnetic sensors and actuators, high-density ultralow-power memory and logic, spin-polarized light emitters for optical encoding, advanced optical switches and modulators and devices with integrated magnetic, electronic and optical functionality.

1.
S.
Das Sarma
,
J.
Fabian
,
X.
Hu
, and
Z.
Zutic
,
IEEE Trans. Magn.
36
,
2821
(
2000
).
2.
G. A.
Prinz
,
Science
282
,
1660
(
1998
).
3.
P. R.
Hammar
,
B. R.
Bennett
,
M. Y.
Yang
, and
M.
Johnson
,
Phys. Rev. Lett.
83
,
203
(
1999
).
4.
D. D.
Awschalom
and
J. M.
Kikkawa
,
Phys. Today
52
,
33
(
1999
).
5.
J. M.
Kikkawa
,
I. P.
Smorchkova
,
N.
Samarth
, and
D. D.
Awschalom
,
Science
277
,
1284
(
1997
).
6.
J. M.
Kikkawa
and
D. D.
Awschalom
,
Science
287
,
473
(
2000
).
7.
S. A.
Wolf
and
D.
Treger
,
IEEE Trans. Magn.
36
,
2748
(
2000
).
8.
J.
Gregg
,
J. Magn. Magn. Mater.
175
,
1
(
1997
).
9.
M.
Johnson
,
IEEE Spectrum
31
,
47
(
1994
).
10.
H.
Ohno
,
Science
281
,
951
(
1998
).
11.
H.
Ohno
,
J. Magn. Magn. Mater.
200
,
110
(
1999
).
12.
P.
Ball
,
Nature (London)
404
,
918
(
2000
).
13.
H.
Ohno
,
J. Vac. Sci. Technol. B
18
,
2039
(
2000
);
H.
Ohno
,
F.
Matsukura
, and
Y.
Ohno
,
Jap. Soc. Appl. Phys. Int.
5
,
4
(
2002
).
14.
T. M.
Pekarek
,
B. C.
Crooker
,
I.
Miotkowski
, and
A. K.
Ramdas
,
J. Appl. Phys.
83
,
6557
(
1998
).
15.
H.
Ohno
,
D.
Chibu
,
F.
Matsukura
,
T.
Omiya
,
E.
Abe
,
T.
Dietl
,
Y.
Ohno
, and
K.
Ohtani
,
Nature (London)
408
,
944
(
2000
).
16.
G.
Prinz
and
K.
Hathaway
,
Phys. Today
48
,
24
(
1995
).
17.
M.
Tanaka
,
J. Cryst. Growth
201/202
,
660
(
1999
).
18.
T. Dietl, in Handbook on Semiconductors, edited by T. S. Moss (North-Holland, Amsterdam, 1994), Vol. 3B, p. 1251.
19.
K.
Sato
and
H.
Katayama-Yoshida
,
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
40
,
4485
(
2001
).
20.
H.
Ohno
and
F.
Matsukura
,
Solid State Commun.
117
,
179
(
2001
).
21.
S. A.
Wolf
,
D. D.
Awschalom
,
R. A.
Buhrman
,
J. M.
Daughton
,
S.
von Molnar
,
M. L.
Roukes
,
A. Y.
Chtchelkanova
, and
D. M.
Treger
,
Science
294
,
1488
(
2001
).
22.
H.
Ohno
,
H.
Munekata
,
S.
von Molnar
, and
L. L.
Chang
,
J. Appl. Phys.
69
,
6103
(
1991
).
23.
F. Holtzberg, S. von Molnar, and J. M. D. Coey, Handbook on Semiconductors, edited by T. S. Moss (North-Holland, Amsterdam, 1980), p. 803.
24.
A.
Fert
,
P.
Grunberg
,
A.
Barthelemy
,
F.
Petroff
, and
W.
Zinn
,
J. Magn. Magn. Mater.
140–144
,
1
(
1995
).
25.
Ultra Thin Magnetic Structures, edited by J. A. C. Bland and B. Heinrich (Springer, Berlin, 1994), Vols. I and II.
26.
C. H.
Tsang
,
R. E.
Fontana
, Jr.
,
T.
Lin
,
D. E.
Heim
,
B. A.
Gurney
, and
M. L.
Williams
,
IBM J. Res. Dev.
42
,
103
(
1998
).
27.
J. M.
Daughton
,
P.
Bade
,
M.
Jenson
, and
M.
Rahmati
,
IEEE Trans. Magn.
28
,
2488
(
1992
).
28.
S. S. P.
Parkin
,
Phys. Rev. Lett.
71
,
1641
(
1993
).
29.
F.
Matsukura
,
H.
Ohno
,
A.
Shen
, and
Y.
Sugawara
,
Phys. Rev. B
57
,
R2037
(
1998
).
30.
H.
Ohno
,
A.
Shen
,
F.
Matsukura
,
A.
Oiwa
,
A.
Endo
,
S.
Katsumoto
, and
Y.
Iye
,
Appl. Phys. Lett.
69
,
363
(
1996
).
31.
R.
Shioda
,
K.
Ando
,
T.
Hayashi
, and
M.
Tanaka
,
Phys. Rev. B
58
,
1100
(
1998
).
32.
Y. Satoh, N. Inoue, Y. Nishikawa, and J. Yoshino, Proceedings of the 3rd Symposium on Physics and Applications of Spin-Related Phenomena in Semiconductors, November 1997, Sendai, Japan, edited by H. Ohno, J. Yoshino, and Y. Oka, (Jap. Soc. Appl. Phys., Tokyo) p. 23.
33.
T.
Hayashi
,
M.
Tanaka
,
T.
Nishinaga
,
H.
Shimoda
,
H.
Tsuchiya
, and
Y.
Otsuka
,
J. Cryst. Growth
175
,
1063
(
1997
).
34.
A.
Van Esch
et al.,
Phys. Rev. B
56
,
13103
(
1997
).
35.
B.
Beschoten
,
P. A.
Crowell
,
I.
Malajovich
,
D. D.
Awschalom
,
F.
Matsukura
,
A.
Shen
, and
H.
Ohno
,
Phys. Rev. Lett.
83
,
3073
(
1999
).
36.
M.
Tanaka
,
J. Vac. Sci. Technol. B
16
,
2267
(
1998
).
37.
Y.
Nagai
,
T.
Kunimoto
,
K.
Nagasaka
,
H.
Nojiri
,
M.
Motokawa
,
F.
Matsukura
,
T.
Dietl
, and
H.
Ohno
,
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
40
,
6231
(
2001
).
38.
J.
Sadowski
et al.,
Appl. Phys. Lett.
78
,
3271
(
2001
).
39.
A.
Shen
,
F.
Matsukura
,
S. P.
Guo
,
Y.
Sugawara
,
H.
Ohno
,
M.
Tani
,
A.
Abe
, and
H. C.
Liu
,
J. Cryst. Growth
201/202
,
379
(
1999
).
40.
H.
Shimizu
,
T.
Hayashi
,
T.
Nishinaga
, and
M.
Tanaka
,
Appl. Phys. Lett.
74
,
398
(
1999
).
41.
B.
Grandidier
,
J. P.
Hys
,
C.
Delerue
,
D.
Stievenard
,
Y.
Higo
, and
M.
Tanaka
,
Appl. Phys. Lett.
77
,
4001
(
2000
).
42.
R. K.
Kawakami
,
E.
Johnson-Halperin
,
L. F.
Chen
,
M.
Hanson
,
N.
Guebels
,
J. S.
Speck
,
A. C.
Gossard
, and
D. D.
Awschalom
,
Appl. Phys. Lett.
77
,
2379
(
2000
).
43.
K.
Ando
,
T.
Hayashi
,
M.
Tanaka
, and
A.
Twardowski
,
J. Appl. Phys.
83
,
6548
(
1998
).
44.
D.
Chiba
,
N.
Akiba
,
F.
Matsukura
,
Y.
Ohno
, and
H.
Ohno
,
Appl. Phys. Lett.
77
,
1873
(
2000
).
45.
H.
Ohno
,
F.
Matsukura
,
T.
Owiya
, and
N.
Akiba
,
J. Appl. Phys.
85
,
4277
(
1999
).
46.
T.
Hayashi
,
M.
Tanaka
,
T.
Nishinaga
, and
H.
Shimada
,
J. Appl. Phys.
81
,
4865
(
1997
).
47.
T.
Hayashi
,
M.
Tanaka
,
K.
Seto
,
T.
Nishinaga
, and
K.
Ando
,
Appl. Phys. Lett.
71
,
1825
(
1997
).
48.
A.
Twardowski
,
Mater. Sci. Eng., B
63
,
96
(
1999
).
49.
T.
Hayashi
,
M.
Tanaka
, and
A.
Asamitsu
,
J. Appl. Phys.
87
,
4673
(
2000
).
50.
N.
Akiba
,
D.
Chiba
,
K.
Natata
,
F.
Matsukura
,
Y.
Ohno
, and
H.
Ohno
,
J. Appl. Phys.
87
,
6436
(
2000
).
51.
S. J.
Potashnik
,
K. C.
Ku
,
S. H.
Chun
,
J. J.
Berry
,
N.
Samarth
, and
P.
Schiffer
,
Appl. Phys. Lett.
79
,
1495
(
2001
).
52.
G. M.
Schott
,
W.
Faschinger
, and
L. W.
Molenkanp
,
Appl. Phys. Lett.
79
,
1807
(
2001
).
53.
H.
Munekata
,
H.
Ohno
,
S.
von Molnar
,
A.
Segmuller
,
L. L.
Chang
, and
L.
Esaki
,
Phys. Rev. Lett.
63
,
1849
(
1989
).
54.
H.
Akai
,
Phys. Rev. Lett.
81
,
3002
(
1998
).
55.
H.
Ohno
,
H.
Munekata
,
T.
Penney
,
S.
von Molnar
, and
L. L.
Chang
,
Phys. Rev. Lett.
68
,
2664
(
1992
).
56.
H.
Munekata
,
A.
Zaslevsky
,
P.
Fumagalli
, and
R. J.
Gambino
,
Appl. Phys. Lett.
63
,
2929
(
1993
).
57.
S.
Koshihara
,
A.
Oiwa
,
M.
Hirasawa
,
S.
Katsumoto
,
Y.
Iye
,
C.
Urano
,
H.
Takagi
, and
H.
Munekata
,
Phys. Rev. Lett.
78
,
4617
(
1997
).
58.
Y. L.
Soo
,
S. W.
Huang
,
Z. H.
Ming
,
Y. H.
Kao
, and
H.
Munekata
,
Phys. Rev. B
53
,
4905
(
1996
).
59.
A.
Oiwa
,
T.
Slupinski
, and
H.
Munekata
,
Appl. Phys. Lett.
78
,
518
(
2001
).
60.
Y.
Nishikawa
,
A.
Tackeuchi
,
M.
Yamaguchi
,
S.
Muto
, and
O.
Wada
,
IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron.
2
,
661
(
1996
).
61.
T.
Slupinski
,
H.
Munekata
, and
A.
Oiwa
,
Appl. Phys. Lett.
80
,
1592
(
2002
).
62.
I.
Malajovich
,
J. M.
Kikkawa
,
D. D.
Awschalom
,
J. J.
Berry
, and
N.
Samarth
,
Phys. Rev. Lett.
84
,
1015
(
2000
).
63.
P. R.
Hammar
,
B. R.
Bennett
,
M. Y.
Yang
, and
M.
Johnson
,
J. Appl. Phys.
87
,
4665
(
2000
).
64.
A.
Hirohata
,
Y. B.
Xu
,
C. M.
Guetler
, and
J. A. C.
Bland
,
J. Appl. Phys.
87
,
4670
(
2000
).
65.
M.
Johnson
,
J. Vac. Sci. Technol. A
16
,
1806
(
1998
).
66.
C.
Gould
,
G.
Schmidt
,
G.
Richler
,
R.
Fiederling
,
P.
Grabs
, and
L. W.
Molenkamp
,
Appl. Surf. Sci.
190
,
395
(
2002
).
67.
R.
Fiederling
,
M.
Kein
,
G.
Rerescher
,
W.
Ossan
,
G.
Schmidt
,
A.
Wang
, and
L. W.
Molenkamp
,
Nature (London)
402
,
787
(
1999
).
68.
G.
Borghs
and
J.
De Boeck
,
Mater. Sci. Eng., B
84
,
75
(
2001
).
69.
Y.
Ohno
,
D. K.
Young
,
B.
Bescholen
,
F.
Matsukura
,
H.
Ohno
, and
D. D.
Awschalom
,
Nature (London)
402
,
790
(
1999
).
70.
B. T.
Jonker
,
Y. D.
Park
,
B. R.
Bennett
,
H. D.
Cheong
,
G.
Kiseoglou
, and
A.
Petrou
,
Phys. Rev. B
62
,
8180
(
2000
).
71.
Y. D.
Park
,
B. T.
Jonker
,
B. R.
Bennett
,
G.
Itskos
,
M.
Furis
,
G.
Kioseoglou
, and
A.
Petrou
,
Appl. Phys. Lett.
77
,
3989
(
2000
).
72.
G.
Schmidt
,
D.
Ferrand
,
L. W.
Molenkamp
,
A. T.
Filip
, and
B. J.
van Wees
,
Phys. Rev. B
62
,
R4790
(
2000
).
73.
Y. Q.
Jin
,
R. C.
Shi
, and
S. J.
Chou
,
IEEE Trans. Magn.
32
,
4707
(
1996
).
74.
C. M.
Hu
,
J.
Nitta
,
A.
Jensen
,
J. B.
Hansen
, and
H.
Takayanagai
,
Phys. Rev. B
63
,
125333
(
2001
).
75.
F. G.
Monzon
,
H. X.
Tang
, and
M. L.
Roukes
,
Phys. Rev. Lett.
84
,
5022
(
2000
).
76.
S.
Gardelis
,
C. G.
Smith
,
C. H. W.
Barnes
,
E. H.
Linfield
, and
J.
Ritchie
,
Phys. Rev. B
60
,
7764
(
1999
).
77.
H. J.
Zhu
,
M.
Ramsteiner
,
H.
Kostial
,
M.
Wassermeier
,
H. P.
Schononherr
, and
K. H.
Ploog
,
Phys. Rev. Lett.
87
,
016601
(
2001
).
78.
M.
Kohda
,
Y.
Ohno
,
K.
Takamura
,
F.
Matsukura
, and
H.
Ohno
,
Jpn. J. Appl. Phys., Part 2
40
,
L1274
(
2001
).
79.
H.
Breve
,
S.
Nemeth
,
Z.
Liu
,
J.
De Boeck
, and
G.
Borghs
,
J. Magn. Magn. Mater.
226–230
,
933
(
2001
).
80.
J. A.
Katine
,
F. J.
Albert
,
R. A.
Buhrman
,
E. D.
Myers
, and
D. C.
Ralph
,
Phys. Rev. Lett.
84
,
3149
(
2000
).
81.
J.
Nitta
,
T.
Ahazaki
,
H.
Takayanngi
, and
T.
Enoki
,
Phys. Rev. Lett.
78
,
1335
(
1997
).
82.
R. Buhrman, WTEC Spin Electronics Workshop, Washington, DC, 2 November 2001 (viewgraphs from the presentation are available at http://www.wtec.org/spin/views/buhrman/index.htm).
83.
There are several useful resources available at http://www.wtec.org, from the World Technology (WTEC) study on spin electronics, including “Spin Electronics: Highlights of Recent US Research and Developments Activities in Spin Electronics” (http://www.wtec.org/spin_us_ summary.pdf) and viewgraphs from the WTEC Workshop on Spin Electronics (http://www.wtec.org/spin/views/index/htm).
84.
T.
Dietl
,
H.
Ohno
,
F.
Matsukura
,
J.
Cibert
, and
D.
Ferrand
,
Science
287
,
1019
(
2000
).
85.
C.
Zener
,
Phys. Rev.
81
,
440
(
1950
);
C.
Zener
,
Phys. Rev.
83
,
299
(
1950
).
86.
See, for example, Introduction to Nitride Semiconductor Blue Lasers and Light-Emitting Diodes, edited by S. Nakamura and S. F. Chichibu (Taylor and Francis, London, 2000).
87.
S. Nakamura, S. J. Pearton, and G. Fasol, The Blue Laser Diode (Springer, Berlin, 2000).
88.
H.
Morkoç
,
A.
Di Carlo
, and
R.
Cingolani
,
Solid-State Electron.
46
,
157
(
2002
).
89.
See, for example, the special issue of IEEE Trans. Electron. Devices 48, 405 (2001), edited by U. K. Mishra and J. C. Zolper.
90.
S. J.
Pearton
,
F.
Ren
,
A. P.
Zhang
, and
K. P.
Lee
,
Mater. Sci. Eng., R.
30
,
55
(
2000
).
91.
See, for example,
H.
Morkoç
,
Mater. Sci. Eng., R.
33
,
135
(
2001
);
Nitride Semiconductors and Devices (Springer, Berlin, 1999).
92.
S. J.
Pearton
,
J. C.
Zolper
,
R. J.
Shul
, and
F.
Ren
,
J. Appl. Phys.
86
,
1
(
1999
).
93.
Some of the data are taken from B. E. Foutz; see http://iiivtn.cornell.edu/www/foutz/nitride.html).
94.
O.
Brandt
,
H.
Yang
,
H.
Kostial
, and
K. H.
Ploog
,
Appl. Phys. Lett.
69
,
2707
(
1996
).
95.
Y.
Zohta
,
Y.
Iwasaki
,
S.
Nakamura
, and
T.
Mukai
,
Jpn. J. Appl. Phys., Part 2
40
,
L423
(
2001
).
96.
T.
Yamamoto
and
H.
Katayama-Yoshida
,
Jpn. J. Appl. Phys., Part 2
36
,
L180
(
1997
).
97.
H.
Katayama-Yoshida
,
R.
Kato
, and
T.
Yamamoto
,
J. Cryst. Growth
231
,
438
(
2001
).
98.
P.
Kozodoy
,
M.
Hansen
,
S. P.
DenBaars
, and
U. K.
Mishra
,
Appl. Phys. Lett.
74
,
3681
(
1999
).
99.
I. D.
Goepfert
,
E. F.
Schubert
,
A.
Osinsky
,
P. E.
Norris
, and
N. N.
Faleev
,
J. Appl. Phys.
88
,
2030
(
2000
).
100.
A. Y.
Polyakov
,
N. B.
Smirnov
,
A. V.
Govorkov
,
A. V.
Osinsky
,
P. E.
Norris
,
S. J.
Pearton
,
J.
Van Hove
,
A. M.
Wowchack
, and
P. P.
Chow
,
J. Appl. Phys.
90
,
4032
(
2001
).
101.
R.
Zeisel
,
M. W.
Bayerl
,
S. T. B.
Goennenwein
,
R.
Dmitrov
,
O.
Ambacher
,
M. S.
Brandt
, and
M.
Stutzmann
,
Phys. Rev. B
61
,
16283
(
2000
).
102.
T. L. Tansley, E. M. Goldys, M. Godlewski, B. Zhan, and H. Y. Zou, GaN and Related Materials, edited by S. J. Pearton (Gordon and Breach, Amsterdam, 1997), Chap. 8.
103.
C. M. Wolfe, N. Holonyak, Jr., and G. E. Stillman, Physical Properties of Semiconductors (Prentice–Hall, Englewood Cliffs, NJ, 1989).
104.
A. R.
Hutson
,
Phys. Rev.
108
,
222
(
1957
).
105.
D. C.
Look
,
J. W.
Hemsky
, and
J. R.
Sizelove
,
Phys. Rev. Lett.
82
,
2552
(
1999
).
106.
K.
Minegishi
,
Y.
Koiwai
,
Y.
Kikuchi
,
K.
Yano
,
M.
Kasuga
, and
A.
Shimizu
,
Jpn. J. Appl. Phys., Part 2
36
,
L1453
(
1997
).
107.
C. Rouleau, S. Kang, and D. Lowndes (unpublished).
108.
T.
Yamamoto
and
H.
Katayama-Yoshida
,
Jpn. J. Appl. Phys., Part 2
38
,
L166
(
1999
).
109.
M.
Joseph
,
H.
Tabata
, and
T.
Kawai
,
Jpn. J. Appl. Phys., Part 2
38
,
L2505
(
1999
).
110.
T.
Aoki
,
Y.
Hatanaka
, and
D. C.
Look
,
Appl. Phys. Lett.
76
,
3257
(
2000
).
111.
Y. R.
Ryu
,
S.
Zhu
,
D. C.
Look
,
J. M.
Wrobel
,
H. M.
Jeong
, and
H. W.
White
,
J. Cryst. Growth
216
,
330
(
2000
).
112.
J.
Blinowski
,
P.
Kacman
, and
J. A.
Majewski
,
Phys. Rev. B
53
,
9524
(
1996
).
113.
T.
Dietl
,
H.
Ohno
, and
F.
Matsukura
,
Phys. Rev. B
63
,
195205
(
2001
).
114.
T.
Dietl
,
J.
Cibert
,
D.
Ferrand
, and
Y.
Merle d’Aubigne
,
Mater. Sci. Eng., B
63
,
103
(
1999
).
115.
T.
Dietl
,
J.
Cibert
,
D.
Ferrand
, and
Y.
Merle d’Aubigne
,
Phys. Rev. B
55
,
3347
(
1997
).
116.
T.
Dietl
,
J. Appl. Phys.
89
,
7437
(
2001
).
117.
K.
Nishizawa
and
O.
Sakai
,
Physica B
281/282
,
468
(
2000
).
118.
J.
Schliemann
,
J.
Konig
, and
A. H.
MacDonald
,
Phys. Rev. B
64
,
165201
(
2001
).
119.
J.
Schliemann
,
J.
Konig
,
H. H.
Lin
, and
A. H.
MacDonald
,
Appl. Phys. Lett.
78
,
1550
(
2001
).
120.
J.
Konig
,
H. H.
Lin
, and
A. H.
MacDonald
,
Phys. Rev. Lett.
84
,
5628
(
2000
).
121.
T.
Jungwirth
,
W. A.
Atkinson
,
B. H.
Lee
, and
A. H.
MacDonald
,
Phys. Rev. B
59
,
9818
(
1999
).
122.
B.
Lee
,
T.
Jungwirth
, and
A. H.
MacDonald
,
Phys. Rev. B
61
,
15606
(
2000
).
123.
T.
Dietl
,
J.
Konig
, and
A. H.
MacDonald
,
Phys. Rev. B
64
,
241201
(
2001
).
124.
M.
Abolfath
,
T.
Jungwirth
,
J.
Brum
, and
A. H.
MacDonald
,
Phys. Rev. B
63
,
054418
(
2001
).
125.
J.
Konig
,
T.
Jungwirth
, and
A. H.
MacDonald
,
Phys. Rev. B
64
,
184423
(
2001
).
126.
V. I.
Litvinov
and
V. K.
Dugaev
,
Phys. Rev. Lett.
86
,
5593
(
2001
).
127.
M.
Berciu
and
R. N.
Bhatt
,
Phys. Rev. Lett.
87
,
107203
(
2001
).
128.
M.
Berciu
and
R. N.
Bhatt
, cond-mat/0111045.
129.
I.
Vurgafturman
and
J. R.
Meyer
,
Phys. Rev. B
64
,
245207
(
2001
).
130.
J.
Fernandez-Rossier
and
L. J.
Sham
,
Phys. Rev. B
64
,
235323
(
2001
).
131.
M.
von Schilfgaarde
and
O. N.
Myrasov
,
Phys. Rev. B
63
,
233205
(
2001
).
132.
C. Y.
Fong
,
V. A.
Gubanov
, and
C.
Boekema
,
J. Electron. Mater.
29
,
1067
(
2000
).
133.
G. A.
Medvedkin
,
T.
Ishibashi
,
T.
Nishi
, and
K.
Hiyata
,
Jpn. J. Appl. Phys., Part 2
39
,
L949
(
2000
).
134.
M. L.
Reed
,
M. K.
Ritums
,
H. H.
Stadelmaier
,
M. J.
Reed
,
C. A.
Parker
,
S. M.
Bedair
, and
N. A.
El-Masry
,
Mater. Lett.
51
,
500
(
2001
).
135.
M. K.
Reed
,
N. A.
El-Masry
,
H. H.
Stadelmaier
,
M. K.
Ritums
,
M. J.
Reed
,
C. A.
Parker
,
J. C.
Roberts
, and
S. M.
Bedair
,
Appl. Phys. Lett.
79
,
3473
(
2001
).
136.
G. T.
Thaler
et al.,
Appl. Phys. Lett.
80
,
3964
(
2002
).
137.
S.
Sonoda
,
S.
Shimizu
,
T.
Sasaki
,
Y.
Yamamoto
, and
H.
Hori
,
J. Cryst. Growth
237–239
,
1358
(
2002
).
138.
K.
Ueda
,
H.
Takata
, and
T.
Kawai
,
Appl. Phys. Lett.
79
,
988
(
2001
).
139.
S. A.
Chambers
et al.,
Appl. Phys. Lett.
79
,
3467
(
2001
).
140.
Y.
Matsumoto
et al.,
Science
291
,
854
(
2001
).
141.
N.
Theodoropoulou
,
A. F.
Hebard
,
M. E.
Overberg
,
C. R.
Abernathy
,
S. J.
Pearton
,
S. N. G.
Chu
, and
R. G.
Wilson
,
Phys. Rev. Lett.
89
,
107203
(
2002
).
142.
M. E.
Overberg
et al., Materials Research Society Fall Meeting, Boston, 2001
J. Vac. Sci. Technol. B
20
,
969
(
2002
).
143.
S.
Cho
et al.
Phys. Rev. Lett.
88
,
257203
(
2002
).
144.
G. A.
Medvedkin
,
K.
Hirose
,
T.
Ishibashi
,
T.
Nishi
,
V. G.
Voevodin
, and
K.
Sato
,
J. Cryst. Growth
236
,
609
(
2002
).
145.
M.
Hashimoto
,
Y. Z.
Zhou
,
M.
Kanamura
, and
H.
Asahi
,
Solid State Commun.
122
,
37
(
2002
).
146.
S.
Choi
,
G. B.
Cha
,
S. C.
Hong
,
S.
Cho
,
Y.
Kim
,
J. B.
Ketterson
,
S. Y.
Jeong
, and
G. C.
Yi
,
Solid State Commun.
122
,
165
(
2002
).
147.
S. J.
Pearton
et al.,
J. Appl. Phys.
92
,
2047
(
2002
).
148.
N.
Theodoropoulou
,
K. P.
Lee
,
M. E.
Overberg
,
S. N. G.
Chu
,
A. F.
Hebard
,
C. R.
Abernathy
,
S. J.
Pearton
, and
R. G.
Wilson
,
J. Nanoscience and Nanotechnol.
1
,
1012
(
2001
).
149.
N.
Theodoropoulou
,
A. F.
Hebard
,
M. E.
Overberg
,
C. R.
Abernathy
,
S. J.
Pearton
,
S. N. G.
Chu
, and
R. G.
Wilson
,
Appl. Phys. Lett.
78
,
3475
(
2001
).
150.
N.
Theodoropoulou
,
A. F.
Hebard
,
M. E.
Overberg
,
S. J.
Pearton
,
C. R.
Abernathy
,
S. N. G.
Chu
, and
R. G.
Wilson
,
J. Appl. Phys.
91
,
7499
(
2002
).
151.
N.
Theodoropoulou
,
M. E.
Overberg
,
S. N. G.
Chu
,
A. F.
Hebard
,
C. R.
Abernathy
,
R. G.
Wilson
,
J. M.
Zavada
,
K. P.
Lee
, and
S. J.
Pearton
,
Phys. Status Solidi B
228
,
337
(
2001
).
152.
N.
Theodoropoulou
,
A. F.
Hebard
,
S. N. G.
Chu
,
M. E.
Overberg
,
C. R.
Abernathy
,
S. J.
Pearton
,
R. G.
Wilson
, and
J. M.
Zavada
,
Appl. Phys. Lett.
79
,
3452
(
2001
).
153.
S. J.
Pearton
,
N.
Theodoropoulou
,
M. E.
Overberg
,
C. R.
Abernathy
,
A. F.
Hebard
,
S. N. G.
Chu
,
R. G.
Wilson
, and
J. M.
Zavada
,
Mater. Sci. Eng., B
94
,
159
(
1992
).
154.
S. J.
Pearton
et al.,
J. Vac. Sci. Technol. A
20
,
721
(
2002
).
155.
K. P.
Lee
,
S. J.
Pearton
,
M. E.
Overberg
,
C. R.
Abernathy
,
R. G.
Wilson
,
S. N. G.
Chu
,
N.
Theodoropoulou
,
A. F.
Hebard
, and
J. M.
Zavada
,
J. Electron. Mater.
31
,
411
(
2002
).
156.
N.
Theodoropoulou
,
A. F.
Hebard
,
S. N. G.
Chu
,
M. E.
Overberg
,
C. R.
Abernathy
,
S. J.
Pearton
,
R. G.
Wilson
, and
J. M.
Zavada
,
Electrochem. Solid-State Lett.
4
,
G119
(
2001
).
157.
S. J.
Pearton
,
K. P.
Lee
,
M. E.
Overberg
,
C. R.
Abernathy
,
N.
Theodoropoulou
,
A. F.
Hebard
,
R. G.
Wilson
,
S. N. G.
Chu
, and
J. M.
Zavada
,
J. Electron. Mater.
31
,
411
(
2002
).
158.
N.
Theodoropoulou
,
A. F.
Hebard
,
S. N. G.
Chu
,
M. E.
Overberg
,
C. R.
Abernathy
,
S. J.
Pearton
,
R. G.
Wilson
,
J. M.
Zavada
, and
Y. D.
Park
,
J. Vac. Sci. Technol. A
20
,
579
(
2002
).
159.
M. E.
Overberg
,
N.
Theodoropoulou
,
S. N. G.
Chu
,
S. J.
Pearton
,
C. R.
Abernathy
,
A. F.
Hebard
,
R. G.
Wilson
, and
J. M.
Zavada
,
Mater. Sci. Eng., B
94
,
14
(
2002
).
160.
M. E.
Overberg
,
B. P.
Gila
,
C. R.
Abernathy
,
S. J.
Pearton
,
M. A.
Theodoropoulou
,
K. T.
McCarthy
,
S. B.
Arnason
, and
A. F.
Hebard
,
Appl. Phys. Lett.
79
,
3128
(
2001
).
161.
W.
Gebicki
,
J.
Strzeszewski
,
G.
Kamler
,
T.
Szyszko
, and
S.
Podsiadlo
,
Appl. Phys. Lett.
76
,
3870
(
2000
).
162.
M.
Zajac
et al.,
Appl. Phys. Lett.
78
,
1276
(
2001
).
163.
M.
Zajac
,
J.
Gosk
,
M.
Kaminska
,
A.
Twardowski
,
T.
Szyszko
, and
S.
Podsiadlo
,
Appl. Phys. Lett.
79
,
2432
(
2001
).
164.
T.
Szyszko
et al.,
J. Cryst. Growth
253
,
631
(
2001
).
165.
S.
Kuwabara
,
T.
Kondo
,
T.
Chikyow
,
R.
Ahmet
, and
H.
Munekata
,
Jpn. J. Appl. Phys., Part 2
40
,
L724
(
2001
).
166.
M. E.
Overberg
,
C. R.
Abernathy
,
S. J.
Pearton
,
N. A.
Theodoropoulou
,
K. T.
McCarthy
, and
A. F.
Hebard
,
Appl. Phys. Lett.
79
,
1312
(
2001
).
167.
Y. L.
Soo
,
G.
Kioseogluu
,
S.
Kim
,
S.
Huang
,
Y. H.
Kao
,
S.
Kowabara
,
S.
Owa
,
T.
Kondo
, and
H.
Munekata
,
Appl. Phys. Lett.
79
,
3926
(
2001
).
168.
H.
Akinaga
,
S.
Nemeth
,
J.
De Boeck
,
L.
Nistor
,
H.
Bender
,
G.
Borghs
,
H.
Ofuchi
, and
M.
Oshima
,
Appl. Phys. Lett.
77
,
4377
(
2000
).
169.
U.
Wahl
,
A.
Vantomme
,
G.
Langouche
,
J. C.
Corriera
, and
L.
Peralta
,
Appl. Phys. Lett.
78
,
3217
(
2001
).
170.
K.
Sato
and
H.
Katayama-Yoshida
,
Jpn. J. Appl. Phys., Part 2
39
,
L555
(
2000
).
171.
T.
Wakano
,
N.
Fujimura
,
Y.
Morinaga
,
N.
Abe
,
A.
Ashida
, and
T.
Ito
,
Physica C
10
,
260
(
2001
).
172.
T.
Fukumura
,
Z.
Jin
,
A.
Ohtomo
,
H.
Koinuma
, and
M.
Kawasaki
,
Appl. Phys. Lett.
75
,
3366
(
1999
).
173.
H.
Tang
,
H.
Berger
,
P. E.
Schmid
, and
F.
Levy
,
Solid State Commun.
92
,
267
(
1994
).
174.
M. E.
Tobar
,
J.
Krupka
,
E. N.
Ivanov
, and
R. A.
Woode
,
J. Appl. Phys.
83
,
1604
(
1998
).
175.
H.
Tang
,
K.
Prasad
,
R.
Sanjines
,
P. E.
Schmid
, and
F.
Levy
,
J. Appl. Phys.
75
,
2042
(
1994
).
176.
E.
Yagi
,
R. R.
Hasiguti
, and
M.
Aono
,
Phys. Rev. B
54
,
7945
(
1996
).
177.
J. W.
DeFord
and
O. W.
Johnson
,
J. Appl. Phys.
54
,
889
(
1983
).
178.
R. Y.
Korortiev
,
J. M.
Gregie
, and
B. W.
Wessels
,
Appl. Phys. Lett.
80
,
1731
(
2002
).
179.
R. N.
Bhatt
,
M.
Berciu
,
M. D.
Kennett
, and
X.
Wan
,
J. Supercond.
15
,
71
(
2002
).
180.
P. A. Cox, Transition Metal Oxides (Oxford University Press, New York, 1992).
181.
D. S.
Ginley
and
C.
Bright
,
MRS Bull.
25
,
37
(
2000
).
182.
H. L. Hartnagel, A. L. Dawar, A. K. Jain, and Jagadish, Semiconducting Transparent Thin Films (IOP, London, 1995).
This content is only available via PDF.
You do not currently have access to this content.