The combination of scanning tunneling microscopy (STM) with optical excitation adds new information to STM. A review is presented covering the work done on light-induced effects in STM during the past 15 years. Effects discussed include thermal effects, nonlinear effects, field enhancement at the STM tip, various effects on semiconductor surfaces, excitation of surface plasmons, detection of photoelectrons, spin-polarized tunneling, as well as light-induced nanomodifications, local optical spectroscopy, the use of ultrashort laser pulses for time-resolved STM, and the combination of STM and scanning near-field optical microscopy.
REFERENCES
1.
G.
Binnig
and H.
Rohrer
, Helv. Phys. Acta
55
, 726
(1982
).2.
R. Wiesendanger, Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy (Cambridge University Press, Cambridge, 1994).
3.
The “M” in the acronyms stands both for “microscope” and “microscopy.”
4.
G. F. A.
van de Walle
, H.
van Kempen
, P.
Wyder
, and P.
Davidsson
, Appl. Phys. Lett.
50
, 22
(1987
).5.
J. K.
Gimzewski
, B.
Reihl
, J. H.
Coombs
, and R. R.
Schlittler
, Z. Phys. B: Condens. Matter
72
, 497
(1988
).6.
7.
R.
Berndt
, Scanning Microsc.
9
, 687
(1995
).8.
A.
Gustafsson
, M.-E.
Pistol
, L.
Montelius
, and L.
Samuelson
, J. Appl. Phys.
84
, 1715
(1998
).9.
Proceedings of the 6th International Conference on Near-field Optics and Related Techniques [J. Microscopy 202 (2001)].
10.
11.
S.
Grafström
, J.
Kowalski
, R.
Neumann
, O.
Probst
, and M.
Wörtge
, J. Vac. Sci. Technol. B
9
, 568
(1991
).12.
S.
Grafström
, P.
Schuller
, J.
Kowalski
, and R.
Neumann
, J. Appl. Phys.
83
, 3453
(1998
).13.
14.
N. M.
Miskovsky
, S. H.
Park
, J.
He
, and P. H.
Cutler
, J. Vac. Sci. Technol. B
11
, 366
(1993
).15.
M. J. G.
Lee
, R.
Reifenberger
, E. S.
Robins
, and H. G.
Lindenmayr
, J. Appl. Phys.
51
, 4996
(1980
).16.
17.
18.
19.
20.
Close inspection of the numerical results in Ref. 19 reveals that they are inaccurate for the very short time scale, most probably due to not taking as many terms of the Fourier series as necessary into account, so that the very fast initial temperature change—described by the high-order terms—is missed. A renewed numerical analysis of the theoretical expressions in Ref. 19 shows that the thermal rise time (defined as the time elapsed until the temperature change has reached 90% of its final value) is shorter than stated in the paper by a factor of roughly 2. With this correction the detailed numerical results presented in Refs. 19 and 12 are in excellent agreement. Furthermore, one finds that is an even better measure for characterizing the actual speed of the temperature change. Within this time the change reaches approximately 72% of its final value, whereas 90% is reached when the nonexponential transient has already flattened considerably. Note that we define w via an intensity distribution of the light, whereas Lee and Robins use to describe the Gaussian profile in their original paper. Note also that here the “rise time” characterizes the response to a steplike excitation, while the rise time discussed by Gerstner et al. in Ref. 13 refers to excitation by a short pulse, which essentially can be considered to be a δ pulse.
21.
In Ref. 11 the separation of the contributions of the sample and the tip is partly misleading. One has to keep in mind that the contribution of the tip extends to considerably higher frequencies when the light is focused on the very apex than when the focus is retracted toward the shank.
22.
F.
Depasse
, N.
Trannoy
, and P.
Grossel
, Microsc. Microanal. Microstruct.
8
, 21
(1997
).23.
A. V.
Bragas
, A. S. M.
Landi
, J. A.
Coy
, and O. E.
Martı́nez
, J. Appl. Phys.
82
, 4153
(1997
).24.
S. M.
Landi
, A. V.
Bragas
, J. A.
Coy
, and O. E.
Martı́nez
, Ultramicroscopy
77
, 207
(1999
).25.
N.
Trannoy
, M.
Egée
, and P.
Grossel
, AIP Conf. Proc.
463
, 135
(1999
).26.
M. A.
Olmstead
, N. M.
Amer
, S.
Kohn
, D.
Fournier
, and A. C.
Boccara
, Appl. Phys. A: Solids Surf.
A32
, 141
(1983
).27.
28.
29.
O.
Probst
, S.
Grafström
, J.
Fritz
, S.
Dey
, J.
Kowalski
, R.
Neumann
, M.
Wörtge
, and G.
zu Putlitz
, Appl. Phys. A: Solids Surf.
A59
, 109
(1994
).30.
Z.
Hasan
, D.
Andsager
, D.
Saltz
, K.
Cartwright
, and M. H.
Nayfeh
, Rev. Sci. Instrum.
63
, 2099
(1992
).31.
32.
33.
J.
Xu
, B.
Koslowski
, R.
Möller
, K.
Läuger
, K.
Dransfeld
, and I. H.
Wilson
, J. Vac. Sci. Technol. B
12
, 2156
(1994
).34.
J. M. R.
Weaver
, L. M.
Walpita
, and H. K.
Wickramasinghe
, Nature (London)
342
, 783
(1989
).35.
D.
Hoffmann
, J. Y.
Grand
, R.
Möller
, A.
Rettenberger
, and K.
Läuger
, Phys. Rev. B
52
, 13796
(1995
).36.
A.
Rettenberger
, C.
Baur
, K.
Läuger
, D.
Hoffmann
, J. Y.
Grand
, and R.
Möller
, Appl. Phys. Lett.
67
, 1217
(1995
).37.
D. H.
Hoffmann
, A.
Rettenberger
, J.-Y.
Grand
, K.
Läuger
, P.
Leiderer
, K.
Dransfeld
, and R.
Möller
, Thin Solid Films
264
, 223
(1995
).38.
D.
Hoffmann
, A.
Haas
, T.
Kunstmann
, J.
Seifritz
, and R.
Möller
, J. Vac. Sci. Technol. A
15
, 1418
(1997
).39.
D.
Hoffmann
, J.
Seifritz
, B.
Weyers
, and R.
Möller
, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.
109
, 117
(2000
).40.
A.
Schneider
, M.
Wenderoth
, K. J.
Engel
, M. A.
Rosentreter
, A. J.
Heinrich
, and R. G.
Ulbrich
, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process.
A66
, S161
(1998
).41.
S. H.
Park
, N. M.
Miskovsky
, P. H.
Cutler
, and E.
Kazes
, Surf. Sci.
266
, 265
(1992
).42.
43.
P. H.
Cutler
, T. E.
Feuchtwang
, T. T.
Tsong
, H.
Nguyen
, and A. A.
Lucas
, Phys. Rev. B
35
, 7774
(1987
).44.
45.
46.
W.
Krieger
, H.
Koppermann
, T.
Suzuki
, and H.
Walther
, IEEE Trans. Instrum. Meas.
38
, 1019
(1989
).47.
48.
H. Q.
Nguyen
, P. H.
Cutler
, T. E.
Feuchtwang
, Z. H.
Huang
, Y.
Kuk
, P. J.
Silverman
, A. A.
Lucas
, and T. E.
Sullivan
, IEEE Trans. Electron Devices
36
, 2671
(1989
).49.
50.
M. Völcker, W. Krieger, and H. Walther, in Scanned Probe Microscopy, edited by H. K. Wickramasinghe (AIP, New York, 1992).
51.
P. H.
Cutler
, T. E.
Feuchtwang
, Z.
Huang
, T. T.
Tsong
, H.
Nguyen
, A. A.
Lucas
, and T. E.
Sullivan
, J. Phys. Colloq.
48
, C6
97
(1987
).52.
A. A.
Lucas
, P. H.
Cutler
, T. E.
Feuchtwang
, T. T.
Tsong
, T. E.
Sullivan
, Y.
Yuk
, H.
Nguyen
, and P. J.
Silverman
, J. Vac. Sci. Technol. A
6
, 461
(1988
).53.
54.
T. E.
Sullivan
, Y.
Kuk
, and P. H.
Cutler
, IEEE Trans. Electron Devices
36
, 2659
(1989
).55.
Y.
Kuk
, R. S.
Becker
, P. J.
Silverman
, and G. P.
Kochanski
, Phys. Rev. Lett.
65
, 456
(1990
).56.
M.
Völcker
, W.
Krieger
, T.
Suzuki
, and H.
Walther
, J. Vac. Sci. Technol. B
9
, 541
(1991
).57.
58.
A.
Levy Yeyati
and F.
Flores
, Ultramicroscopy
42–44
, 242
(1992
).59.
K.
Kobayashi
, T.
Suzuki
, and M.
Tsukada
, Surf. Sci.
285
, 181
(1993
).60.
C. Sammet, W. Krieger, M. Völcker, and H. Walther, in Photons and Local Probes, edited by O. Marti and R. Möller (Kluwer Academic, Dordrecht, 1995), p. 257.
61.
C.
Sammet
, M.
Völcker
, W.
Krieger
, and H.
Walther
, J. Appl. Phys.
78
, 6477
(1995
).62.
W.
Krieger
, A.
Hornsteiner
, E.
Soergel
, C.
Sammet
, M.
Völcker
, and H.
Walther
, Laser Phys.
6
, 334
(1996
).63.
T.
Gutjahr-Löser
, A.
Hornsteiner
, W.
Krieger
, and H.
Walther
, J. Appl. Phys.
85
, 6331
(1999
).64.
65.
A. V.
Bragas
, Phys. Low-Dimens. Struct.
9/10
, 1
(1998
).66.
67.
A.
Levy Yeyati
and F.
Flores
, J. Phys.: Condens. Matter
4
, 7341
(1992
).68.
A.
Levy Yeyati
and F.
Flores
, Ann. Phys. (Leipzig)
2
, 126
(1993
).69.
A. Levy Yeyati, J. C. Cuevas, and A. Martin-Rodero, in Photons and Local Probes, edited by O. Marti and R. Möller (Kluwer Academic, Dordrecht, 1995), p. 281.
70.
M. J.
Hagmann
, Int. J. Quantum Chem., Quantum Chem. Symp.
28
, 271
(1994
).71.
72.
73.
P. H.
Cutler
, T. E.
Feuchtwang
, Z.
Huang
, T. T.
Tsong
, H.
Nguyen
, A. A.
Lucas
, and T. E.
Sullivan
, J. Phys. Colloq.
48
, C6
101
(1987
).74.
C. R. Leavens and G. C. Aers, in Scanning Tunneling Microscopy III, edited by R. Wiesendanger and H.-J. Güntherodt (Springer Verlag, Berlin, 1993), Vol. 29, p. 105.
75.
C. Baur, B. Koslowski, R. Möller, and K. Dransfeld, in Near Field Optics, edited by D. W. Pohl and D. Courjon (Kluwer Academic, Dordrecht, 1993), p. 325.
76.
77.
78.
79.
80.
81.
82.
83.
N. M.
Miskovsky
, S. H.
Park
, and P. H.
Cutler
, J. Vac. Sci. Technol. B
12
, 2148
(1994
).84.
85.
86.
W.
Seifert
, E.
Gerner
, M.
Stachel
, and K.
Dransfeld
, Ultramicroscopy
42–44
, 379
(1991
).87.
B.
Michel
, W.
Mizutani
, R.
Schierle
, A.
Jarosch
, W.
Knop
, H.
Benedickter
, W.
Bächtold
, and H.
Rohrer
, Rev. Sci. Instrum.
63
, 4080
(1992
).88.
S. J.
Stranick
, P. S.
Weiss
, A. N.
Parikh
, and D. L.
Allara
, J. Vac. Sci. Technol. A
11
, 739
(1993
).89.
T.
Gutjahr-Löser
, W.
Krieger
, H.
Walther
, and J.
Kirschner
, J. Appl. Phys.
86
, 6331
(1999
).90.
91.
92.
93.
94.
95.
96.
C. F. Bohren and D. R. Huffmann, Absorption and Scattering of Light by Small Particles (Wiley, New York, 1998).
97.
98.
99.
100.
101.
102.
J.
Jersch
, F.
Demming
, L. J.
Hildenhagen
, and K.
Dickmann
, Proc. SPIE
3097
, 244
(1997
).103.
F.
Demming
, J.
Jersch
, K.
Dickmann
, and P. I.
Geshev
, Appl. Phys. B: Lasers Opt.
B66
, 593
(1998
).104.
105.
Y. E.
Lozovik
, A. V.
Klyuchnik
, and S. P.
Merkulova
, Laser Phys.
9
, 552
(1999
).106.
107.
C. Baur, A. Rettenberger, K. Dransfeld, P. Leiderer, B. Koslowski, R. Möller, and P. Johansson, in Photons and Local Probes, edited by O. Marti and R. Möller (Kluwer Academic, Dordrecht, 1995), p. 235.
108.
A. V.
Bragas
, S. M.
Landi
, and O. E.
Martı́nez
, Appl. Phys. Lett.
72
, 2075
(1998
).109.
110.
W. Mönch, Semiconductor Surfaces and Interfaces, 2nd ed. (Springer Verlag, Berlin, 1995).
111.
112.
113.
114.
115.
D.
Gorelik
, S.
Aloni
, J.
Eitle
, D.
Meyler
, and G.
Haase
, J. Chem. Phys.
108
, 9877
(1998
).116.
117.
T.
Hagen
, S.
Grafström
, J.
Kowalski
, and R.
Neumann
, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process.
A66
, S973
(1998
).118.
119.
120.
D. G.
Cahill
and R. J.
Hamers
, Scanning Microsc.
6
, 931
(1992
).121.
122.
M.
McEllistrem
, G.
Haase
, D.
Chen
, and R. J.
Hamers
, Phys. Rev. Lett.
70
, 2471
(1993
).123.
124.
R. H. M.
Groeneveld
, M. W. J.
Prins
, and H.
van Kempen
, Surf. Sci.
331–333
, 1299
(1995
).125.
T. W.
Matthes
, C.
Sommerhalter
, A.
Rettenberger
, M.
Böhmisch
, J.
Boneberg
, M. C.
Lux-Steiner
, and P.
Leiderer
, Appl. Surf. Sci.
123–124
, 187
(1998
).126.
Y.
Kuk
, R. S.
Becker
, P. J.
Silverman
, and G. P.
Kochanski
, J. Vac. Sci. Technol. B
9
, 545
(1991
).127.
128.
129.
130.
G. F. A.
van de Walle
, H.
van Kempen
, P.
Wyder
, and P.
Davidsson
, Surf. Sci.
181
, 356
(1987
).131.
G. S.
Rohrer
, D. A.
Bonnell
, and R. H.
French
, J. Am. Ceram. Soc.
73
, 3257
(1990
).132.
D. A.
Bonnell
, G. S.
Rohrer
, and R. H.
French
, J. Vac. Sci. Technol. B
9
, 551
(1991
).133.
R.
Möller
, S.
Akari
, C.
Bauer
, B.
Koslowski
, and K.
Dransfeld
, AIP Conf. Proc.
241
, 314
(1991
).134.
M. W. J.
Prins
, R.
Jansen
, R. H. M.
Groeneveld
, A. P.
van Gelder
, and H.
van Kempen
, Phys. Rev. B
53
, 8090
(1996
).135.
C.
Sommerhalter
, T. W.
Matthes
, J.
Boneberg
, P.
Leiderer
, and M. C.
Lux-Steiner
, J. Vac. Sci. Technol. B
15
, 1876
(1997
).136.
L. N.
Bolotov
, I. V.
Makarenko
, A. F.
Shulekin
, and A. N.
Titkov
, Surf. Sci.
331–333
, 468
(1995
).137.
138.
139.
140.
141.
142.
143.
144.
S.
Akari
, M. C.
Lux-Steiner
, M.
Vögt
, M.
Stachel
, and K.
Dransfeld
, J. Vac. Sci. Technol. B
9
, 561
(1991
).145.
S.
Akari
, M. C.
Lux-Steiner
, K.
Glöckler
, T.
Schill
, R.
Heitkamp
, B.
Koslowski
, and K.
Dransfeld
, Ann. Phys. (Leipzig)
2
, 141
(1993
).146.
S.
Akari
, K.
Friemelt
, K.
Glöckler
, M. C.
Lux-Steiner
, E.
Bucher
, and K.
Dransfeld
, Appl. Phys. A: Solids Surf.
A57
, 221
(1993
).147.
M. C.
Lux-Steiner
, S.
Akari
, K.
Friemelt
, and K.
Glöckler
, Sol. Energy Mater. Sol. Cells
35
, 149
(1994
).148.
149.
150.
C.
Sommerhalter
, T. W.
Matthes
, J.
Boneberg
, M. C.
Lux-Steiner
, and P.
Leiderer
, Appl. Surf. Sci.
144–145
, 564
(1999
).151.
D.
Eich
, U.
Herber
, U.
Groh
, U.
Stahl
, C.
Heske
, M.
Marsi
, M.
Kiskinova
, W.
Riedl
, R.
Fink
, and E.
Umbach
, Thin Solid Films
361–362
, 258
(2000
).152.
O. J.
Glembocki
, E. S.
Snow
, C. R. K.
Marrian
, S. M.
Prokes
, and D. S.
Katzer
, Ultramicroscopy
42–44
, 764
(1992
).153.
154.
155.
T.
Takahashi
, M.
Yoshita
, I.
Kamiya
, and H.
Sakaki
, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process.
A66
, S1055
(1998
).156.
H.
Yamamoto
, I.
Kamiya
, and T.
Takahashi
, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
38
, 3871
(1999
).157.
158.
159.
160.
161.
D.
Schwall
, F. A.
Otter
, and J. M.
Galligan
, J. Vac. Sci. Technol. B
16
, 2127
(1998
).162.
V. V.
Afonin
, V. L.
Gurevich
, R.
Laiho
, A.
Pavlov
, and Y.
Pavlova
, Phys. Solid State
40
, 1147
(1998
).163.
V. V.
Afonin
, V. L.
Gurevich
, R.
Laiho
, A.
Pavlov
, and Y.
Pavlova
, J. Phys.: Condens. Matter
10
, 8687
(1998
).164.
165.
166.
K. S.
Cho
, W. H.
Lee
, D.
Kim
, and J.-W.
Choi
, Mol. Cryst. Liq. Cryst.
349
, 319
(2000
).167.
168.
169.
170.
171.
172.
173.
H.
Möltgen
, E.
Donkels
, H.
Bettermann
, and K.
Kleinermanns
, Mater. Lett.
45
, 63
(2000
).174.
V. Y.
Aleshkin
, A. V.
Biryukov
, S. V.
Gaponov
, Z. F.
Krasilnik
, and V. L.
Mironov
, Tech. Phys. Lett.
26
, 3
(2000
).175.
176.
177.
J.
Li
, J. G.
Mantovani
, and J. D.
Patterson
, Infrared Phys. Technol.
40
, 463
(1999
).178.
179.
V. Y.
Aleshkin
, A. V.
Biryukov
, S. V.
Gaponov
, Z. F.
Krasilnik
, and V. L.
Mironov
, Russ. Acad. Sci. Bull. Phys.
64
, 296
(2000
).180.
181.
A.
Zrenner
, F.
Findeis
, E.
Beham
, M.
Markmann
, G.
Böhm
, and G.
Abstreiter
, J. Lumin.
87–89
, 35
(2000
).182.
183.
184.
185.
186.
M. J.
Gallagher
, T. G.
Ruskell
, D.
Chen
, and D.
Sarid
, Appl. Phys. Lett.
64
, 256
(1994
).187.
K.
Kawashima
, S.
Takai
, G.
Kudou
, H.
Adachi
, M.
Takeuchi
, and K.
Fujiwara
, Proc. SPIE
3897
, 658
(1999
).188.
H.
Sugimura
, N.
Kitamura
, and H.
Masuhara
, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2
31
, L1506
(1992
).189.
H.
Sugimura
, T.
Uchida
, N.
Shimo
, N.
Kitamura
, and H.
Masuhara
, Mol. Cryst. Liq. Cryst.
253
, 205
(1994
).190.
T. W.
Mercer
, T. L.
Carroll
, Y.
Liang
, N. J.
DiNardo
, and D. A.
Bonnell
, J. Appl. Phys.
75
, 8225
(1994
).191.
A.
Pavlov
, Y.
Pavlova
, R.
Laiho
, R.
Herino
, I.
Mihalcescu
, and R.
Romestain
, Diffus. Defect Data, Pt. B
54
, 119
(1997
).192.
J. K.
Gimzewski
, R.
Berndt
, and R. R.
Schlittler
, Ultramicroscopy
42–44
, 366
(1992
).193.
194.
195.
196.
197.
K.
Tsuji
, Y.
Hasegawa
, K.
Wagatsuma
, and T.
Sakurai
, Jpn. J. Appl. Phys., Part 2
37
, L1271
(1998
).198.
Y.
Hasegawa
, K.
Tsuji
, K.
Nakayama
, K.
Wagatsuma
, and T.
Sakurai
, J. Vac. Sci. Technol. B
18
, 2676
(2000
).199.
G. Gerber, F. Sattler, S. Vogler, J. Y. Grand, P. Leiderer, and R. Möller, in Ultrafast Phenomena IX, edited by P. F. Barbara, W. H. Knox, G. A. Mourou, and A. H. Zewail (Springer Verlag, Berlin, 1994), Vol. 60, p. 149.
200.
M. J.
Feldstein
, P.
Vöhringer
, W.
Wang
, and N. F.
Scherer
, J. Phys. Chem.
100
, 4739
(1996
).201.
W.
Pfeiffer
, F.
Sattler
, S.
Vogler
, G.
Gerber
, J.-Y.
Grand
, and R.
Möller
, Appl. Phys. B: Lasers Opt.
B64
, 265
(1997
).202.
203.
D. T.
Pierce
, R. J.
Celotta
, G.-C.
Wang
, W. N.
Unertl
, A.
Galejs
, C. E.
Kuyatt
, and S. R.
Mielczarek
, Rev. Sci. Instrum.
51
, 478
(1980
).204.
205.
R.
Wiesendanger
, H.-J.
Güntherodt
, G.
Güntherodt
, R. J.
Gambino
, and R.
Ruf
, Phys. Rev. Lett.
65
, 247
(1990
).206.
R.
Wiesendanger
, D.
Bürgler
, G.
Tarrach
, T.
Schaub
, U.
Hartmann
, H.-J.
Güntherodt
, I. V.
Shvets
, and J. M. D.
Coey
, Appl. Phys. A: Solids Surf.
A53
, 349
(1991
).207.
208.
209.
210.
R.
Shinohara
, K.
Yamaguchi
, Y.
Suzuki
, and W.
Nabhan
, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
37
, 7151
(1998
).211.
R.
Shinohara
, K.
Yamaguchi
, H.
Hirota
, Y.
Suzuki
, T.
Manago
, H.
Akinaga
, T.
Kuroda
, and F.
Minami
, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
39
, 7093
(2000
).212.
213.
R.
Jansen
, M. C. M. M.
van der Wielen
, M. W. J.
Prins
, D. L.
Abraham
, and H.
van Kempen
, J. Vac. Sci. Technol. B
12
, 2133
(1994
).214.
M. W. J.
Prins
, M. C. M. M.
van der Wielen
, R.
Jansen
, D. L.
Abraham
, and H.
van Kempen
, Appl. Phys. Lett.
64
, 1207
(1994
).215.
M. C. M. M. van der Wielen, M. W. J. Prins, R. Jansen, D. L. Abraham, and H. van Kempen, in Photons and Local Probes, edited by O. Marti and R. Möller (Kluwer Academic, Dordrecht, 1995), p. 275.
216.
217.
M. W. J.
Prins
, M. C. M. M.
van der Wielen
, D. L.
Abraham
, H.
van Kempen
, and H. W.
van Kesteren
, IEEE Trans. Magn.
30
, 4491
(1994
).218.
M. W. J.
Prins
, R. H. M.
Groeneveld
, D. L.
Abraham
, H.
van Kempen
, and H. W.
van Kesteren
, Appl. Phys. Lett.
66
, 1141
(1995
).219.
M. W. J.
Prins
, R. H. M.
Groeneveld
, D. L.
Abraham
, B. R.
Schad
, and H.
van Kempen
, J. Vac. Sci. Technol. B
14
, 1206
(1996
).220.
H.
van Kempen
, E. J. G.
Boon
, M. C. M. M.
van der Wielen
, J. W. G.
Wildöer
, M. W. J.
Prins
, R.
Jansen
, and R.
Schad
, Acta Phys. Pol. A
93
, 323
(1998
).221.
R.
Schad
, S. M.
Jordan
, M. J. P.
Stoelinga
, M. W. J.
Prins
, R. H. M.
Groeneveld
, H.
van Kempen
, and H. W.
van Kesteren
, Appl. Phys. Lett.
73
, 2669
(1998
).222.
S. N.
Molotkov
, JETP Lett.
55
, 173
(1992
).223.
224.
H. J.
Reittu
, J. Phys.: Condens. Matter
6
, 1847
(1994
).225.
226.
M. W. J.
Prins
, H.
van Kempen
, H.
van Leuken
, R. A.
de Groot
, W.
van Roy
, and J. De
Boeck
, J. Phys.: Condens. Matter
7
, 9447
(1995
).227.
228.
M. W. J.
Prins
, D. L.
Abraham
, and H.
van Kempen
, J. Magn. Magn. Mater.
121
, 152
(1993
).229.
230.
K.
Sueoka
, K.
Mukasa
, and K.
Hayakawa
, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1
32
, 2989
(1993
).231.
K.
Mukasa
, K.
Sueoka
, H.
Hasegawa
, Y.
Tazuke
, and K.
Hayakawa
, Optoelectron., Devices Technol.
10
, 259
(1995
).232.
233.
W.
Nabhan
and Y.
Suzuki
, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process.
A66
, S101
(1998
).234.
Y.
Suzuki
, W.
Nabhan
, R.
Shinohara
, K.
Yamaguchi
, and T.
Katayama
, J. Magn. Magn. Mater.
198–199
, 540
(1999
).235.
J.
Jansen
, R.
Schad
, and H.
van Kempen
, J. Magn. Magn. Mater.
198–199
, 668
(1999
).236.
W.
Nabhan
, Y.
Suzuki
, R.
Shinohara
, K.
Yamaguchi
, and E.
Tamura
, Appl. Surf. Sci.
144–145
, 570
(1999
).237.
H.
Kodama
, T.
Uzumaki
, M.
Oshiki
, K.
Sueoka
, and K.
Mukasa
, J. Appl. Phys.
83
, 6831
(1998
).238.
M. I.
Shtokman
, Optoelectron, Instrumentation Data Processing
3
, 27
(1989
).239.
240.
241.
242.
243.
K.
Dickmann
and J.
Jersch
, Laser Optoelektron.
27
, 76
(1995
).244.
245.
246.
J.
Jersch
, F.
Demming
, J.
Hildenhagen
, and K.
Dickmann
, Opt. Laser Technol.
29
, 433
(1997
).247.
J.
Jersch
, F.
Demming
, L. J.
Hildenhagen
, and K.
Dickmann
, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process.
A66
, 29
(1998
).248.
J.
Jersch
, F.
Demming
, and K.
Dickmann
, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process.
A64
, 29
(1997
).249.
250.
251.
252.
Z. H.
Mai
, Y. F.
Lu
, W. D.
Song
, and W. K.
Chim
, Appl. Surf. Sci.
154–155
, 360
(2000
).253.
Z. H.
Mai
, Y. F.
Lu
, S. M.
Huang
, W. K.
Chim
, and J. S.
Pan
, J. Vac. Sci. Technol. B
18
, 1853
(2000
).254.
Y. E.
Lozovik
, D. V.
Lisin
, A. I.
Ivanov
, V. O.
Kompanets
, Y. A.
Matveets
, S. V.
Chekalin
, and S. P.
Merkulova
, Proc. SPIE
3734
, 424
(1999
).255.
Y. E.
Lozovik
, D. V.
Lisin
, A. I.
Ivanov
, V. O.
Kompanets
, Y. A.
Matveets
, S. V.
Chekalin
, and S. P.
Merkulova
, Laser Phys.
9
, 564
(1999
).256.
257.
Z.
Dohnálek
, I.
Lyubinetsky
, and J. T.
Yates
, Jr., J. Vac. Sci. Technol. A
15
, 1488
(1997
).258.
I.
Lyubinetsky
, Z.
Dohnálek
, V. A.
Ukraintsev
, and J. T.
Yates
, Jr., J. Appl. Phys.
82
, 4115
(1997
).259.
J.
Boneberg
, M.
Tresp
, M.
Ochmann
, H.-J.
Münzer
, and P.
Leiderer
, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process.
A66
, 615
(1998
).260.
261.
J.
Boneberg
, H. J.
Münzer
, M.
Tresp
, M.
Ochmann
, and P.
Leiderer
, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process.
A67
, 381
(1998
).262.
J.
Jersch
, F.
Demming
, I.
Fedotov
, and K.
Dickmann
, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process.
A68
, 637
(1999
).263.
264.
M.
Ochmann
, H. J.
Münzer
, J.
Boneberg
, and P.
Leiderer
, Rev. Sci. Instrum.
70
, 2049
(1999
).265.
J.
Jersch
, F.
Demming
, I.
Fedotov
, and K.
Dickmann
, Rev. Sci. Instrum.
70
, 3173
(1999
).266.
P. I.
Geshev
, F.
Demming
, J.
Jersch
, and K.
Dickmann
, Thin Solid Films
368
, 157
(2000
).267.
P. I.
Geshev
, F.
Demming
, J.
Jersch
, and K.
Dickmann
, Appl. Phys. B: Lasers Opt.
B70
, 91
(2000
).268.
H. Raether, Surface Plasmons on Smooth and Rough Surfaces and on Gratings (Springer Verlag, Berlin, 1988).
269.
R.
Möller
, U.
Albrecht
, J.
Boneberg
, B.
Koslowski
, P.
Leiderer
, and K.
Dransfeld
, J. Vac. Sci. Technol. B
9
, 506
(1991
).270.
N.
Kroo
, J.-P.
Thost
, M.
Völcker
, W.
Krieger
, and H.
Walther
, Europhys. Lett.
15
, 289
(1991
).271.
J.-P.
Thost
, W.
Krieger
, N.
Kroo
, Z.
Szentirmay
, and H.
Walther
, Opt. Commun.
103
, 194
(1993
).272.
A. Hornsteiner, W. Krieger, Z. Szentirmay, N. Kroo, and H. Walther, in Photons and Local Probes, edited by O. Marti and R. Möller (Kluwer Academic, Dordrecht, 1995), p. 251.
273.
274.
J. P.
Dufour
, T.
David
, Y.
Lacroute
, and J. P.
Goudonnet
, Surf. Sci.
310
, 301
(1994
).275.
M.
Specht
, J. D.
Pedarnig
, W. M.
Heckl
, and T. W.
Hänsch
, Phys. Rev. Lett.
68
, 476
(1992
).276.
Y.-K.
Kim
, P. M.
Lundquist
, J. A.
Helfrich
, J. M.
Mikrut
, G. K.
Wong
, P. R.
Auvil
, and J. B.
Ketterson
, Appl. Phys. Lett.
66
, 3407
(1995
).277.
J.
Boneberg
, M.
Ochmann
, H.-J.
Münzer
, and P.
Leiderer
, Ultramicroscopy
71
, 345
(1998
).278.
279.
280.
281.
J. D.
Pedarnig
, M.
Specht
, W. M.
Heckl
, and T. W.
Hänsch
, Appl. Phys. A: Solids Surf.
A55
, 476
(1992
).282.
283.
284.
U. D.
Keil
, H.
Taekjip
, J. R.
Jensen
, and J. M.
Hvam
, Appl. Phys. Lett.
72
, 3074
(1998
).285.
286.
S.
Weiss
, D. F.
Ogletree
, D.
Botkin
, M.
Salmeron
, and D. S.
Chemla
, Appl. Phys. Lett.
63
, 2567
(1993
).287.
D.
Botkin
, S.
Weiss
, D. F.
Ogletree
, M.
Salmeron
, and D. S.
Chemla
, Proc. SPIE
2116
, 376
(1994
).288.
D.
Botkin
, S.
Weiss
, D. F.
Ogletree
, J.
Beeman
, M.
Salmeron
, and D. S.
Chemla
, Rev. Sci. Instrum.
66
, 4130
(1995
).289.
R. H. M.
Groeneveld
, T.
Rasing
, L. M. F.
Kaufmann
, E.
Smalbrugge
, J. H.
Wolter
, M. R.
Melloch
, and H.
van Kempen
, J. Vac. Sci. Technol. B
14
, 861
(1996
).290.
291.
292.
293.
294.
W. M.
Steffens
, S.
Heisig
, U. D.
Keil
, and E.
Oesterschulze
, Appl. Phys. B: Lasers Opt.
B69
, 455
(1999
).295.
K.
Takeuchi
, A.
Mizuhara
, and Y.
Kasahara
, IEEE Trans. Instrum. Meas.
44
, 815
(1995
).296.
S.
Weiss
, D.
Botkin
, D. F.
Ogletree
, M.
Salmeron
, and D. S.
Chemla
, Phys. Status Solidi B
188
, 343
(1995
).297.
R. H. M.
Groeneveld
, T.
Rasing
, L. M. F.
Kaufmann
, E.
Smalbrugge
, J. H.
Wolter
, M. R.
Melloch
, and H.
van Kempen
, Physica B
218
, 294
(1996
).298.
299.
D.
Botkin
, J.
Glass
, D. S.
Chemla
, D. F.
Ogletree
, M.
Salmeron
, and S.
Weiss
, Appl. Phys. Lett.
69
, 1321
(1996
).300.
301.
302.
U. D.
Keil
, J. R.
Jensen
, and J. M.
Hvam
, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process.
A66
, S23
(1998
).303.
G. P. Donati, G. Rodriguez, and A. J. Taylor, in Ultrafast Phenomena XI, edited by T. Elsaesser, D. Wiersma, J. Fujimoto, and W. Zinth (Springer Verlag, Berlin, 1998), p. 159.
304.
305.
306.
307.
M. R.
Freeman
, A. Y.
Elezzabi
, G. M.
Steeves
, and G.
Nunes
, Jr., Surf. Sci.
386
, 290
(1997
).308.
309.
310.
G. M.
Steeves
, A. Y.
Elezzabi
, and M. R.
Freeman
, Appl. Phys. Lett.
70
, 1909
(1997
).311.
G. M.
Steeves
, A. Y.
Elezzabi
, and M. R.
Freeman
, Appl. Phys. Lett.
72
, 504
(1998
).312.
G. M.
Steeves
, A. Y.
Elezzabi
, R.
Teshima
, R. A.
Said
, and M. R.
Freeman
, IEEE J. Quantum Electron.
34
, 1415
(1998
).313.
314.
V.
Gerstner
, A.
Knoll
, W.
Pfeiffer
, A.
Thon
, and G.
Gerber
, J. Appl. Phys.
88
, 4851
(2000
).315.
316.
S.
Grafström
, O.
Probst
, S.
Dey
, J.
Freund
, J.
Kowalski
, R.
Neumann
, M.
Wörtge
, and G.
zu Putlitz
, Proc. SPIE
1891
, 56
(1993
).317.
S. N.
Molotkov
, JETP Lett.
54
, 481
(1991
).318.
M. A. Kozhushner and I. I. Oleinik, in Photons and Local Probes, edited by O. Marti and R. Möller (Kluwer Academic, Dordrecht, 1995), p. 215.
319.
O. Probst, S. Dey, J. Fritz, S. Grafström, T. Hagen, J. Kowalski, G. zu Putlitz, and R. Neumann, in Photons and Local Probes, edited by O. Marti and R. Möller (Kluwer Academic, Dordrecht, 1995), p. 269.
320.
S. Grafström, J. Kowalski, and R. Neumann, in Atomic Physics Methods in Modern Research, edited by K. Jungmann, J. Kowalski, I. Reinhard, and F. Träger (Springer Verlag, Berlin, 1997), p. 295.
321.
S.
Grafström
, P.
Schuller
, J.
Kowalski
, and R.
Neumann
, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process.
A66
, S1237
(1998
).322.
323.
324.
325.
326.
D. W. Pohl, in Near Field Optics, edited by D. W. Pohl and D. Courjon (Kluwer Academic, Dordrecht, 1993), p. 1.
327.
328.
A.
Harootunian
, E.
Betzig
, M.
Isaacson
, and A.
Lewis
, Appl. Phys. Lett.
49
, 674
(1986
).329.
330.
331.
F.
Zenhausern
, M. P.
O’Boyle
, and H. K.
Wickramasinghe
, Appl. Phys. Lett.
65
, 1623
(1994
).332.
333.
334.
F.
Zenhausern
, Y.
Martin
, and H. K.
Wickramasinghe
, Science
269
, 1083
(1995
).335.
B.
Hecht
, H.
Bielefeld
, Y.
Inouye
, D. W.
Pohl
, and L.
Novotny
, J. Appl. Phys.
81
, 2492
(1997
).336.
337.
338.
339.
340.
D. G.
Volgunov
, S. V.
Gaponov
, V. F.
Dryakhlushin
, A. Y.
Klimov
, A. Y.
Luk’yanov
, V. L.
Mironov
, A. I.
Panfilov
, A. A.
Petrukhin
, D. G.
Revin
, and V. V.
Rogov
, Instrum. Exp. Tech.
41
, 132
(1998
).341.
342.
P.
Tománek
, J.
Brüstlová
, P.
Dobis
, and L.
Grmela
, Ultramicroscopy
71
, 199
(1998
).343.
K.
Nakajima
, R.
Micheletto
, K.
Mitsui
, T.
Isoshima
, M.
Hara
, T.
Wada
, H.
Sasabe
, and W.
Knoll
, Mol. Cryst. Liq. Cryst. Sci. Technol., Sect. A
322
, 209
(1998
).344.
K.
Nakajima
, R.
Micheletto
, K.
Mitsui
, T.
Isoshima
, M.
Hara
, T.
Wada
, H.
Sasabe
, and W.
Knoll
, Appl. Surf. Sci.
144–145
, 520
(1999
).345.
K.
Nakajima
, R.
Micheletto
, K.
Mitsui
, T.
Isoshima
, M.
Hara
, T.
Wada
, H.
Sasabe
, and W.
Knoll
, Mol. Cryst. Liq. Cryst. Sci. Technol., Sect. A
327
, 241
(1999
).346.
K.
Nakajima
, R.
Micheletto
, K.
Mitsui
, T.
Isoshima
, M.
Hara
, T.
Wada
, H.
Sasabe
, and W.
Knoll
, Jpn. J. Appl. Phys.
38
, 3949
(1999
).347.
J.
Ferber
, U. C.
Fischer
, N.
Hagedorn
, and H.
Fuchs
, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process.
A69
, 581
(1999
).348.
349.
350.
351.
352.
A. E.
Pochtenny
, O. M.
Stukalov
, V. L.
Mironov
, D. G.
Volgunov
, and A. G.
Biryukov
, Phys. Low-Dimens. Struct.
3/4
, 109
(2001
).
This content is only available via PDF.
© 2002 American Institute of Physics.
2002
American Institute of Physics
You do not currently have access to this content.