The magnetic and magnetotransport properties of Ni80Fe20/La0.7Sr0.3MnO3 (NiFe/LSMO) bilayers were investigated after bombarding the LSMO surface with low-energy Ar+ or O2+/Ar+ ion beams before the growth of the top NiFe layer. A variety of magnetic properties are revealed, including an asymmetric two-stepped hysteresis loop with an exchange bias loop shift, and alternatively, a symmetric two-stepped hysteresis loop with an enhanced coercivity. Polarized neutron reflectometry measurements provide details of the magnetic depth profile and interface layer magnetism at different temperatures. The LSMO surface modifications determine a complex magnetic and electric NiFe/LSMO interface having a strong effect on the magnetoresistance of the bilayer. Surface engineering based on ion beam bombardment is presented as a promising technique for optimizing the electronic and magnetic properties of NiFe/LSMO junctions for future device applications.

1.
J. M.
De Teresa
,
A.
Barthelemy
,
A.
Fert
,
J. P.
Contour
,
F.
Montaigne
, and
P.
Seneor
,
Science
286
,
507
(
1999
).
2.
M.
Bowen
,
M.
Bibes
,
A.
Barthélémy
,
J.-P.
Contour
,
A.
Anane
,
Y.
Lemaître
, and
A.
Fert
,
Appl. Phys. Lett.
82
,
233
(
2003
).
3.
C.-S.
Park
,
M.-H.
Hong
, and
H.-H.
Park
,
J. Ceram. Soc. Jpn.
122
,
608
(
2014
).
4.
D.
Schumacher
,
A.
Steffen
,
J.
Voigt
,
J.
Schubert
,
T.
Brückel
,
H.
Ambaye
, and
V.
Lauter
,
Phys. Rev. B
88
,
144427
(
2013
).
5.
L.
Poggini
,
S.
Ninova
,
P.
Graziosi
,
M.
Mannini
,
V.
Lanzilotto
,
B.
Cortigiani
,
L.
Malavolti
,
F.
Borgatti
,
U.
Bardi
,
F.
Totti
,
I.
Bergenti
,
V. A.
Dediu
, and
R.
Sessoli
,
J. Phys. Chem. C
118
,
13631
(
2014
).
6.
A.
Vailionis
,
H.
Boschker
,
Z.
Liao
,
J. R. A.
Smit
,
G.
Rijnders
,
M.
Huijben
, and
G.
Koster
,
Appl. Phys. Lett.
105
,
131906
(
2014
).
7.
A.
Gupta
,
G. Q.
Gong
,
G.
Xiao
,
P. R.
Duncombe
,
P.
Lecoeur
,
P.
Trouilloud
,
Y. Y.
Wang
,
V. P.
Dravid
, and
J. Z.
Sun
,
Phys. Rev. B
54
,
R15629
(
1996
).
8.
M. A.
López-Quintela
,
L. E.
Hueso
,
J.
Rivas
, and
F.
Rivadulla
,
Nanotechnology
14
,
212
(
2003
).
9.
N.
Homonnay
,
K. J.
ÓShea
,
C.
Eisenschmidt
,
M.
Wahler
,
D. A.
MacLaren
, and
G.
Schmidt
,
ACS Appl. Mater. Interfaces
7
,
22196
(
2015
).
10.
J. S.
Lee
,
D. A.
Arena
,
P.
Yu
,
C. S.
Nelson
,
R.
Fan
,
C. J.
Kinane
,
S.
Langridge
,
M. D.
Rossell
,
R.
Ramesh
, and
C. C.
Kao
,
Phys. Rev. Lett.
105
,
257204
(
2010
).
11.
H.
Jalili
,
J. W.
Han
,
Y.
Kuru
,
Z.
Cai
, and
B.
Yildiz
,
J. Phys. Chem. Lett.
2
,
801
(
2011
).
12.
K.-W.
Lin
,
R. J.
Gambino
, and
L. H.
Lewis
,
J. Appl. Phys.
93
,
6590
(
2003
).
13.
K.-W.
Lin
,
M.
Mirza
,
C.
Shueh
,
H.-R.
Huang
,
H.-F.
Hsu
, and
J. V.
Lierop
,
Appl. Phys. Lett.
100
,
122409
(
2012
).
14.
J.
van Lierop
,
B. W.
Southern
,
K. W.
Lin
,
Z. Y.
Guo
,
C. L.
Harland
,
R. A.
Rosenberg
, and
J. W.
Freeland
,
Phys. Rev. B
76
,
224432
(
2007
).
15.
D. L.
Cortie
,
K. W.
Lin
,
C.
Shueh
,
H. F.
Hsu
,
X. L.
Wang
,
M.
James
,
H.
Fritzsche
,
S.
Brück
, and
F.
Klose
,
Phys. Rev. B
86
,
054408
(
2012
).
16.
R. D.
Desautels
,
C.
Shueh
,
K.-W.
Lin
,
J. W.
Freeland
, and
J. V.
Lierop
,
Appl. Phys. Lett.
108
,
172410
(
2016
).
17.
G. L.
Causer
,
P. K.
Manna
,
C. C.
Chiu
,
J.
van Lierop
,
M.
Ionescu
,
K. W.
Lin
, and
F.
Klose
,
Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B
409
,
121
(
2017
).
18.
J.
Zhang
,
G. L.
Causer
,
X.
Liu
,
M.
Ionescu
,
S.
Li
,
K.-W.
Lin
, and
F.
Klose
,
J. Magn. Magn. Mater.
(submitted).
19.
A.
Gambardella
,
P.
Graziosi
,
I.
Bergenti
,
M.
Prezioso
,
D.
Pullini
,
S.
Milita
,
F.
Biscarini
, and
V. A.
Dediu
,
Sci. Rep.
4
,
5353
(
2014
).
20.
P.
Graziosi
,
M.
Prezioso
,
A.
Gambardella
,
C.
Kitts
,
R. K.
Rakshit
,
A.
Riminucci
,
I.
Bergenti
,
F.
Borgatti
,
C.
Pernechele
,
M.
Solzi
,
D.
Pullini
,
D.
Busquets-Mataix
, and
V. A.
Dediu
,
Thin Solid Films
534
,
83
(
2013
).
21.
S. J.
Callori
,
K. H.
Chao
,
G. L.
Causer
,
B.
Nagy
,
L. F.
Kiss
,
A.
Sulyok
,
L.
Bottyán
,
K. W.
Lin
, and
F.
Klose
,
IEEE Magn. Lett.
8
,
1
(
2017
).
22.
P. K.
Manna
,
E.
Skoropata
,
Y. W.
Ting
,
K. W.
Lin
,
J. W.
Freeland
, and
J. V.
Lierop
,
J. Phys.: Condens. Matter
28
,
486004
(
2016
).
23.
H. C.
Su
,
M. J.
Huang
,
H. J.
Lin
,
C. H.
Lee
,
C. T.
Chen
,
C. H.
Liu
,
H. F.
Hsu
,
K. W.
Lin
, and
J.
van Lierop
,
Phys. Rev. B
87
,
014402
(
2013
).
24.
F. J. T.
Goncalves
,
R. D.
Desautels
,
S.
Su
,
T.
Drysdale
,
J. V.
Lierop
,
K.-W.
Lin
,
D. S.
Schmool
, and
R. L.
Stamps
,
AIP Adv.
5
,
067101
(
2015
).
25.
M.
Prezioso
,
A.
Riminucci
,
P.
Graziosi
,
I.
Bergenti
,
R.
Rakshit
,
R.
Cecchini
,
A.
Vianelli
,
F.
Borgatti
,
N.
Haag
,
M.
Willis
,
A. J.
Drew
,
W. P.
Gillin
, and
V. A.
Dediu
,
Adv. Mater.
25
,
534
(
2013
).
26.
C. F.
Majkrzak
,
Phys. B: Condens. Matter
173
,
75
(
1991
).
27.
H.
Zabel
,
Phys. B: Condens. Matter
198
,
156
(
1994
).
28.
X.-L.
Zhou
and
S.-H.
Chen
,
Phys. Rep.
257
,
223
(
1995
).
29.
D. L.
Cortie
,
Y.-W.
Ting
,
P.-S.
Chen
,
X.
Tan
,
K.-W.
Lin
, and
F.
Klose
,
J. Appl. Phys.
115
,
073901
(
2014
).
30.
M.
James
,
A.
Nelson
,
S. A.
Holt
,
T.
Saerbeck
,
W. A.
Hamilton
, and
F.
Klose
,
Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A
632
,
112
(
2011
).
31.
T.
Saerbeck
,
F.
Klose
,
A. P. L.
Brun
,
J.
Füzi
,
A.
Brule
,
A.
Nelson
,
S. A.
Holt
, and
M.
James
,
Rev. Sci. Instrum.
83
,
081301
(
2012
).
32.
Computer program SimulReflec, L. L. B. CEA/CNRS, France, 2007. Free software and description available at www-llb.cea.fr/prism/programs/simulreflec/simulreflec.html.
33.
M.
Prezioso
,
A.
Riminucci
,
I.
Bergenti
,
P.
Graziosi
,
D.
Brunel
, and
V. A.
Dediu
,
Adv. Mater.
23
,
1371
(
2011
).
34.
P.
Yu
,
X. F.
Jin
,
J.
Kudrnovský
,
D. S.
Wang
, and
P.
Bruno
,
Phys. Rev. B
77
,
054431
(
2008
).
35.
A.
Ruotolo
,
A.
Oropallo
,
F. M.
Granozio
,
G. P.
Pepe
,
P.
Perna
, and
U. S. D.
Uccio
,
Appl. Phys. Lett.
88
,
252504
(
2006
).
36.
H. M.
Yau
,
Z. B.
Yan
,
N. Y.
Chan
,
K.
Au
,
C. M.
Wong
,
C. W.
Leung
,
F. Y.
Zhang
,
X. S.
Gao
, and
J. Y.
Dai
,
Sci. Rep.
5
,
12826
(
2015
).
37.
See https://www.ncnr.nist.gov/resources/n-lengths/ for neutron scattering lengths and cross sections.
38.
C.
Ge
,
K.-J.
Jin
,
L.
Gu
,
L.-C.
Peng
,
Y.-S.
Hu
,
H.-Z.
Guo
,
H.-F.
Shi
,
J.-K.
Li
,
J.-O.
Wang
,
X.-X.
Guo
,
C.
Wang
,
M.
He
,
H.-B.
Lu
, and
G.-Z.
Yang
,
Adv. Mater. Interfaces
2
,
1500407
(
2015
).
You do not currently have access to this content.