Skip to Main Content
Skip Nav Destination

Issues

LASERS, OPTICS, AND OPTOELECTRONICS

Appl. Phys. Lett. 92, 021101 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2830696
Appl. Phys. Lett. 92, 021102 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2832666
Appl. Phys. Lett. 92, 021103 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2830829
Appl. Phys. Lett. 92, 021104 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2830998
Appl. Phys. Lett. 92, 021105 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834373
Appl. Phys. Lett. 92, 021106 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2830989
Appl. Phys. Lett. 92, 021107 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2831910
Appl. Phys. Lett. 92, 021108 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2831916
Appl. Phys. Lett. 92, 021109 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2825465
Appl. Phys. Lett. 92, 021110 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2832767
Appl. Phys. Lett. 92, 021111 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2824846
Appl. Phys. Lett. 92, 021112 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2829885
Appl. Phys. Lett. 92, 021113 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2835051
Appl. Phys. Lett. 92, 021114 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2831658
Appl. Phys. Lett. 92, 021115 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834898
Appl. Phys. Lett. 92, 021116 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834899
Appl. Phys. Lett. 92, 021117 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834903
Appl. Phys. Lett. 92, 021118 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2819614
Appl. Phys. Lett. 92, 021119 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2830838
Appl. Phys. Lett. 92, 021120 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2831659
Appl. Phys. Lett. 92, 021121 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2827568
Appl. Phys. Lett. 92, 021122 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2835048
Appl. Phys. Lett. 92, 021123 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2835050
Appl. Phys. Lett. 92, 021124 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2836023
Appl. Phys. Lett. 92, 021125 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2836252
Appl. Phys. Lett. 92, 021126 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2801515
Appl. Phys. Lett. 92, 021127 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2836268
Appl. Phys. Lett. 92, 021128 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2835049
Appl. Phys. Lett. 92, 021129 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2835703

PLASMAS AND ELECTRICAL DISCHARGES

Appl. Phys. Lett. 92, 021501 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2832670
Appl. Phys. Lett. 92, 021502 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2832669
Appl. Phys. Lett. 92, 021503 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2827579

STRUCTURAL, MECHANICAL, THERMODYNAMIC, AND OPTICAL PROPERTIES OF CONDENSED MATTER

Appl. Phys. Lett. 92, 021901 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2832635
Appl. Phys. Lett. 92, 021902 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2833698
Appl. Phys. Lett. 92, 021903 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2820756
Appl. Phys. Lett. 92, 021904 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834367
Appl. Phys. Lett. 92, 021905 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2828043
Appl. Phys. Lett. 92, 021906 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2828335
Appl. Phys. Lett. 92, 021907 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2830703
Appl. Phys. Lett. 92, 021908 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2833699
Appl. Phys. Lett. 92, 021909 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2827200
Appl. Phys. Lett. 92, 021910 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834850

ELECTRONIC TRANSPORT AND SEMICONDUCTORS

Appl. Phys. Lett. 92, 022101 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2833269
Appl. Phys. Lett. 92, 022102 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2833692
Appl. Phys. Lett. 92, 022103 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2829609
Appl. Phys. Lett. 92, 022104 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2830005
Appl. Phys. Lett. 92, 022105 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2831901
Appl. Phys. Lett. 92, 022106 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2831918
Appl. Phys. Lett. 92, 022107 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834696
Appl. Phys. Lett. 92, 022108 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834701
Appl. Phys. Lett. 92, 022109 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2831668
Appl. Phys. Lett. 92, 022110 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834852
Appl. Phys. Lett. 92, 022111 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2830015
Appl. Phys. Lett. 92, 022112 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2835706

MAGNETISM AND SUPERCONDUCTIVITY

Appl. Phys. Lett. 92, 022501 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2827192
Appl. Phys. Lett. 92, 022502 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2831732
Appl. Phys. Lett. 92, 022503 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2831919
Appl. Phys. Lett. 92, 022504 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834706
Appl. Phys. Lett. 92, 022505 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834714
Appl. Phys. Lett. 92, 022506 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834835
Appl. Phys. Lett. 92, 022507 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834853
Appl. Phys. Lett. 92, 022508 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2833124
Appl. Phys. Lett. 92, 022509 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2807274
Appl. Phys. Lett. 92, 022510 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2832771
Appl. Phys. Lett. 92, 022511 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2829681
Appl. Phys. Lett. 92, 022512 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2827576
Appl. Phys. Lett. 92, 022513 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834369
Appl. Phys. Lett. 92, 022514 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2835704

DIELECTRICS AND FERROELECTRICITY

Appl. Phys. Lett. 92, 022901 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2830813
Appl. Phys. Lett. 92, 022902 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2829586
Appl. Phys. Lett. 92, 022903 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2831696
Appl. Phys. Lett. 92, 022904 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2831907
Appl. Phys. Lett. 92, 022905 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834854
Appl. Phys. Lett. 92, 022906 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2830331
Appl. Phys. Lett. 92, 022907 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2826271
Appl. Phys. Lett. 92, 022908 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2835459
Appl. Phys. Lett. 92, 022909 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2832642
Appl. Phys. Lett. 92, 022910 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2836269
Appl. Phys. Lett. 92, 022911 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2836764

NANOSCALE SCIENCE AND DESIGN

Appl. Phys. Lett. 92, 023101 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2832673
Appl. Phys. Lett. 92, 023102 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2830828
Appl. Phys. Lett. 92, 023103 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2830988
Appl. Phys. Lett. 92, 023104 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834900
Appl. Phys. Lett. 92, 023105 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2831902
Appl. Phys. Lett. 92, 023106 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2825425
Appl. Phys. Lett. 92, 023107 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834371
Appl. Phys. Lett. 92, 023108 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834702
Appl. Phys. Lett. 92, 023109 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2822418
Appl. Phys. Lett. 92, 023110 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834370
Appl. Phys. Lett. 92, 023111 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834734
Appl. Phys. Lett. 92, 023112 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2835456
Appl. Phys. Lett. 92, 023113 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2835905
Appl. Phys. Lett. 92, 023114 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2835906
Appl. Phys. Lett. 92, 023115 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2836132
Appl. Phys. Lett. 92, 023116 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2829588

ORGANIC ELECTRONICS AND PHOTONICS

Appl. Phys. Lett. 92, 023301 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2830618
Appl. Phys. Lett. 92, 023302 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2829391
Appl. Phys. Lett. 92, 023303 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2829862
Appl. Phys. Lett. 92, 023304 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834364
Appl. Phys. Lett. 92, 023305 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834374
Appl. Phys. Lett. 92, 023306 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2835044
Appl. Phys. Lett. 92, 023307 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2835047

DEVICE PHYSICS

Appl. Phys. Lett. 92, 023501 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2833691
Appl. Phys. Lett. 92, 023502 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2830940
Appl. Phys. Lett. 92, 023503 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2833697
Appl. Phys. Lett. 92, 023504 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834697
Appl. Phys. Lett. 92, 023505 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2831731
Appl. Phys. Lett. 92, 023506 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2827588
Appl. Phys. Lett. 92, 023507 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2831718
Appl. Phys. Lett. 92, 023508 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2832368
Appl. Phys. Lett. 92, 023509 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834695
Appl. Phys. Lett. 92, 023510 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834700
Appl. Phys. Lett. 92, 023511 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2827567
Appl. Phys. Lett. 92, 023512 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2825584
Appl. Phys. Lett. 92, 023513 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2836270
Appl. Phys. Lett. 92, 023514 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2803852

INTERDISCIPLINARY AND GENERAL PHYSICS

Appl. Phys. Lett. 92, 024101 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2832646
Appl. Phys. Lett. 92, 024102 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2828717
Appl. Phys. Lett. 92, 024103 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2833690
Appl. Phys. Lett. 92, 024104 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834851
Appl. Phys. Lett. 92, 024105 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834855
Appl. Phys. Lett. 92, 024106 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834372
Appl. Phys. Lett. 92, 024107 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2831009
Appl. Phys. Lett. 92, 024108 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2834901
Appl. Phys. Lett. 92, 024109 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2831660

COMMENTS

Appl. Phys. Lett. 92, 026101 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2833688
Appl. Phys. Lett. 92, 026102 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2822437
Appl. Phys. Lett. 92, 026103 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2822438

ERRATA

Appl. Phys. Lett. 92, 029901 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2836941
Appl. Phys. Lett. 92, 029902 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2832678
Appl. Phys. Lett. 92, 029903 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2833687
Appl. Phys. Lett. 92, 029904 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2827203
Appl. Phys. Lett. 92, 029905 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2832677
Appl. Phys. Lett. 92, 029906 (2008) https://doi.org/10.1063/1.2823581

or Create an Account

Close Modal
Close Modal