Tuning the desorption temperature of an As cap layer allows to achieve In0.53Ga0.47As(001) surfaces with (2 × 4) and (4 × 2) reconstructions which exhibit different chemical reactivity upon exposure in atmospheric pressure. Trimethyl-Al based atomic layer deposition of Al2O3 films on the two exposed surfaces causes a non-equivalent interface composition. This behavior is associated with a worse electrical quality of the interface with the exposed (4 × 2) In0.53Ga0.47As reconstruction.

1.
D.
Peide
and
J.
Ye
,
Vac. Sci. Technol. A
26
(
4
),
697
(
2008
).
2.
J.
Robertson
,
Appl. Phys. Lett.
94
,
152104
(
2009
).
3.
C. L.
Hinkle
,
M.
Milojevic
,
B.
Brennan
,
A. M.
Sonnet
,
F. S.
Aguirre-Tostado
,
G. J.
Hughes
,
E. M.
Vogel
, and
R. M.
Wallace
,
Appl. Phys. Lett.
94
,
162101
(
2009
).
4.
B.
Shin
,
J.
Clemens
,
M. A.
Kelly
,
A. C.
Kummel
, and
P. C.
McIntyre
,
Appl. Phys. Lett.
96
,
252907
(
2010
).
5.
Y. C.
Chang
,
C.
Merckling
,
J.
Penaud
,
C. Y.
Lu
,
W.-E.
Wang
,
J.
Dekoster
,
M.
Meuris
,
M.
Caymax
,
M.
Heyns
,
J.
Kwo
, and
M.
Hong
,
Appl. Phys. Lett.
97
,
112901
(
2010
).
6.
Y.
Hwang
,
M. A.
Wistey
,
J.
Cagnon
,
R.
Engel-Herbert
, and
S.
Stemmer
,
Appl. Phys. Lett.
94
,
122907
(
2009
).
7.
J.
Shen
,
D.
Winn
,
W.
Melitz
,
J.
Clemens
, and
A. C.
Kummel
,
ECS Trans.
16
,
463
(
2008
).
8.
L.
Lamagna
,
M.
Fusi
,
S.
Spiga
,
M.
Fanciulli
,
G.
Brammertz
,
C.
Merckling
,
M.
Meuris
, and
A.
Molle
,
Microelectr. Eng.
88
,
431
(
2011
).
9.
A. P.
Kirk
,
M.
Milojevic
,
J.
Kim
, and
R. M.
Wallace
,
Appl. Phys. Lett.
96
,
202905
(
2010
).
10.
H. D.
Trinh
,
E. Y.
Chang
,
P. W.
Wu
,
Y. Y.
Wong
,
C. T.
Chang
,
Y. F.
Hsieh
,
C. C.
Yu
,
H. Q.
Nguyen
,
Y. C.
Lin
,
K. L.
Lin
, and
M. K.
Hudait
,
Appl. Phys. Lett.
97
,
042903
(
2010
).
11.
A.
Molle
,
G.
Brammertz
,
L.
Lamagna
,
M.
Fanciulli
,
M.
Meuris
, and
S.
Spiga
,
Appl. Phys. Lett.
95
,
023507
(
2009
).
12.
H.-C.
Lin
,
W.-E.
Wang
,
G.
Brammertz
,
M.
Meuris
, and
M.
Heyns
,
Microelectr. Eng.
86
,
1554
(
2009
).
13.
A.
O’Mahony
,
S.
Monaghan
,
G.
Provenzano
,
I. M.
Povey
,
M. G.
Nolan
,
É.
O’Connor
,
K.
Cherkaoui
,
S. B.
Newcomb
,
F.
Crupi
,
P. K.
Hurley
, and
M. E.
Pemble
,
Appl. Phys. Lett.
97
,
052904
(
2010
).
14.
E. H.
Nicollian
and
J. R.
Brews
,
MOS (Metal Oxide Semiconductor) Physics and Technology
(
Wiley
,
New York
,
1982
).
15.
E. J.
Kim
,
L.
Wang
,
P. M.
Asbeck
,
K. C.
Saraswat
, and
P. C.
McIntyre
,
Appl. Phys. Lett.
96
,
012906
(
2010
).
16.
M.
Milojevic
,
F. S.
Aguirre-Tostado
,
C. L.
Hinkle
,
H. C.
Kim
,
E. M.
Vogel
,
J.
Kim
, and
R.
Wallace
,
Appl. Phys. Lett.
93
,
202902
(
2008
).
17.
J. B.
Clemens
,
S. R.
Bishop
,
D. L.
Feldwinn
,
R.
Droopad
, and
A. C.
Kummel
,
Surf. Sci.
603
,
2230
(
2009
).
You do not currently have access to this content.