The evolution of silicon carbide (0001) surface reconstruction upon annealing has been studied by Si K edge extended x-ray absorption fine structure (EXAFS). Using Si KVV Auger electron yield at different emission angles with different surface sensitivities, EXAFS reveals conclusively that Si–Si bonds exist on the surface for all reconstructions. The existence of Si clusters on the 63×63R30° surface was also confirmed by x-ray photoemission spectroscopy. This finding gives us a better understanding of epitaxial graphene formation on SiC.

1.
A.
Mattausch
and
O.
Pankratov
,
Phys. Rev. Lett.
99
,
076802
(
2007
).
2.
S. Y.
Zhou
,
G. -H.
Gweon
,
A. V.
Fedorov
,
P. N.
First
,
W. A.
De Heer
,
D. -H.
Lee
,
F.
Guinea
,
A. H.
Castro Neto
, and
A.
Lanzara
,
Nature Mater.
6
,
770
(
2007
).
3.
W.
Chen
,
H.
Xu
,
L.
Liu
,
X. Y.
Gao
,
D. C.
Qi
,
G. W.
Peng
,
S. C.
Tan
,
Y. P.
Feng
,
K. P.
Loh
, and
A. T. S.
Wee
,
Surf. Sci.
596
,
176
(
2005
).
4.
J.
Pollmann
and
P.
Krüger
,
J. Phys.: Condens. Matter
16
,
S1659
(
2004
).
5.
V. M.
Bermudez
,
Appl. Surf. Sci.
84
,
45
(
1995
).
6.
V.
van Elsbergen
,
T. U.
Kampen
, and
W.
Monch
,
Surf. Sci.
365
,
443
(
1996
).
7.
T.
Tsukamoto
,
M.
Hirai
,
M.
Kusaka
,
M.
Iwami
,
T.
Ozawa
,
T.
Nagamura
, and
T.
Nakata
,
Surf. Sci.
371
,
316
(
1997
).
8.
I.
Forbeaux
,
J. M.
Themlin
,
V.
Langlais
,
L. M.
Yu
,
H.
Belkhir
, and
J. M.
Debever
,
Surf. Rev. Lett.
5
,
193
(
1998
).
9.
X. N.
Xie
,
H. Q.
Wang
,
A. T. S.
Wee
, and
K. P.
Loh
,
Surf. Sci.
478
,
57
(
2001
).
10.
M.
Naitoh
,
J.
Takami
,
S.
Nishigaki
, and
N.
Toyama
,
Appl. Phys. Lett.
75
,
650
(
1999
).
12.
M.
Rohlfing
and
J.
Pollman
,
Phys. Rev. Lett.
84
,
135
(
2000
).
13.
U.
Starke
,
J.
Schardt
,
J.
Bernhardt
,
M.
Franke
,
K.
Reuter
,
H.
Wedler
,
K.
Heinz
,
J.
Furthmuller
,
P.
Kackell
, and
F.
Bechstedt
,
Phys. Rev. Lett.
80
,
758
(
1998
);
J.
Schardt
,
J.
Bernhardt
,
U.
Starke
, and
K.
Heinz
,
Phys. Rev. B
62
,
10335
(
2000
).
14.
J. E.
Northrup
and
J.
Neugebauer
,
Phys. Rev. B
52
, R
17001
(
1995
);
M.
Sabisch
,
P.
Kruger
, and
J.
Pollmann
,
Phys. Rev. B
55
,
10561
(
1997
).
15.
A.
Coati
,
M. S.
Simkin
,
Y.
Garreau
,
R.
Pinchaux
,
T.
Argunova
, and
K.
Aid
,
Phys. Rev. B
59
,
12224
(
1999
).
16.
G.
Zampieri
,
S.
Lizzit
,
L.
Petaccia
, and
A.
Goldoni
,
Phys. Rev. B
72
,
165327
(
2005
).
17.
M. H.
Tsai
,
C. S.
Chang
,
J. D.
Dow
, and
I. S. T.
Tsong
,
Phys. Rev. B
45
,
1327
(
1992
);
L.
Li
and
I. S. T.
Tsong
,
Surf. Sci.
351
,
141
(
1996
).
18.
L. I.
Johansson
,
F.
Owman
, and
P.
Martesson
,
Phys. Rev. B
53
,
13793
(
1996
).
19.
F.
Owman
and
P.
Martensson
,
Surf. Sci.
330
,
L639
(
1995
).
20.
W. J.
Ong
and
E. S.
Tok
,
Phys. Rev. B
73
,
045330
(
2006
).
21.
X. Y.
Gao
,
S.
Chen
,
T.
Liu
,
W.
Chen
,
A. T. S.
Wee
,
T.
Nomoto
,
S.
Yagi
,
K.
Soda
, and
J.
Yuhara
,
Phys. Rev. B
78
,
201404
(
2008
).
22.
X. Y.
Gao
,
H.
Xu
,
A. T. S.
Wee
,
W.
Kuch
,
C.
Tieg
, and
S.
Wang
,
J. Appl. Phys.
97
,
103527
(
2005
).
23.
M.
Krawczyk
,
L.
Zommer
,
A.
Kosin ski
,
J. W.
Sobczak
, and
A.
Jablonski
,
Surf. Interface Anal.
38
,
644
(
2006
).
24.
S.
Yagi
,
G.
Kutluk
,
T.
Matsui
,
A.
Matano
,
A.
Hiraya
,
E.
Hashimoto
, and
M.
Taniguchi
,
Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A
467–468
,
723
(
2001
).
25.
A. L.
Ankudinov
,
B.
Ravel
,
J. J.
Rehr
, and
S. D.
Conradson
,
Phys. Rev. B
58
,
7565
(
1998
).
26.
A. H.
Gomes de Mesquita
,
Acta Crystallogr.
1
,
1948
(
1967
).
27.
Y.
Baba
,
T.
Sekiguchi
,
I.
Shimoyama
, and
G.
Krishna Nath
,
Appl. Surf. Sci.
237
,
176
(
2004
).
28.
Y. H.
Tang
,
T. K.
Sham
,
D.
Yang
, and
L.
Xue
,
Appl. Surf. Sci.
252
,
3386
(
2006
).
29.
A. M.
Haghiri-Gosnet
,
F.
Rousseaux
,
E.
Gat
,
J.
Durand
, and
A. M.
Flank
,
Microelectron. Eng.
17
,
215
(
1992
).
30.
C. J.
Glover
,
G. J.
Foran
, and
M. C.
Ridgway
,
Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B
199
,
195
(
2003
).
31.
X. J.
Yu
,
O.
Wilhelmi
,
H. O.
Moser
,
S. V.
Vidyaraj
,
X.
Gao
,
A. T. S.
Wee
,
T.
Nyunt
,
H.
Qian
, and
H.
Zheng
,
J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.
144−147
,
1031
(
2005
).
32.
R. M.
Tromp
and
J. B.
Hannon
,
Phys. Rev. Lett.
102
,
106104
(
2009
).
33.
S. W.
Poon
,
W.
Chen
,
E. S.
Tok
, and
A. T. S.
Wee
,
Appl. Phys. Lett.
92
,
104102
(
2008
).
You do not currently have access to this content.