Phase-pure, stoichiometric, unstrained, epitaxial (001)-oriented EuTiO3 thin films have been grown on (001) SrTiO3 substrates by reactive molecular-beam epitaxy. Magnetization measurements show antiferromagnetic behavior with TN=5.5K, similar to bulk EuTiO3. Spectroscopic ellipsometry measurements reveal that EuTiO3 films have a direct optical band gap of 0.93±0.07eV.

1.
K. A.
Müller
and
H.
Burkard
,
Phys. Rev. B
19
,
3593
(
1979
).
2.
T.
Katsufuji
and
H.
Takagi
,
Phys. Rev. B
64
,
054415
(
2001
).
3.
J.
Brous
,
I.
Fankuchen
, and
E.
Banks
,
Acta Crystallogr.
6
,
67
(
1953
).
4.
Landolt-Börnstein
, in
Numerical Data and Functional Relationships in Science and Technology, New Series, Group III
, edited by
K. -H.
Hellwege
and
A. M.
Hellwege
(
Springer
,
Berlin
,
1981
), Vol.
169
, p.
59
.
5.
B.
Ravel
and
E. A.
Stern
,
Physica B
209
,
316
(
1995
).
6.
T. R.
McGuire
,
M. W.
Shafer
,
R. J.
Joenk
,
H. A.
Alperin
, and
S. J.
Pickart
,
J. Appl. Phys.
37
,
981
(
1966
).
7.
C. -L.
Chien
,
S.
DeBenedetti
, and
F.
De S. Barros
,
Phys. Rev. B
10
,
3913
(
1974
).
8.
C. J.
Fennie
and
K. M.
Rabe
,
Phys. Rev. Lett.
97
,
267602
(
2006
).
9.
R.
Ranjan
,
H. S.
Nabi
, and
R.
Pentcheva
,
J. Phys.: Condens. Matter
19
,
406217
(
2007
).
10.
H. -H.
Wang
,
A.
Fleet
,
J. D.
Brock
,
D.
Dale
, and
Y.
Suzuki
,
J. Appl. Phys.
96
,
5324
(
2004
).
11.
K.
Kugimiya
,
K.
Fujita
,
K.
Tanaka
, and
K.
Hirao
,
J. Magn. Magn. Mater.
310
,
2268
(
2007
).
12.
S. C.
Chae
,
Y. J.
Chang
,
D. -W.
Kim
,
B. W.
Lee
,
I.
Choi
, and
C. U.
Jung
,
J. Electroceram.
22
,
216
(
2009
).
13.
K.
Fujita
,
N.
Wakasugi
,
S.
Murai
,
Y.
Zong
, and
K.
Tanaka
,
Appl. Phys. Lett.
94
,
062512
(
2009
).
14.
M. W.
Shafer
,
J. Appl. Phys.
36
,
1145
(
1965
).
15.
G. J.
McCarthy
,
W. B.
White
, and
R.
Roy
,
J. Inorg. Nucl. Chem.
31
,
329
(
1969
).
16.
Y. S.
Kim
,
D. J.
Kim
,
T. H.
Kim
,
T. W.
Noh
,
J. S.
Choi
,
B. H.
Park
, and
J. -G.
Yoon
,
Appl. Phys. Lett.
91
,
042908
(
2007
).
17.
E. J.
Tarsa
,
E. A.
Hachfeld
,
F. T.
Quinlan
,
J. S.
Speck
, and
M.
Eddy
,
Appl. Phys. Lett.
68
,
490
(
1996
).
18.
T.
Ohnishi
,
K.
Shibuya
,
T.
Yamamoto
, and
M.
Lippmaa
,
J. Appl. Phys.
103
,
103703
(
2008
).
19.
D. G.
Schlom
,
L. -Q.
Chen
,
X.
Pan
,
A.
Schmehl
, and
M. A.
Zurbuchen
,
J. Am. Ceram. Soc.
91
,
2429
(
2008
).
20.
G.
Koster
,
B. L.
Kropman
,
G.
Rijnders
,
D. H. A.
Blank
, and
H.
Rogalla
,
Appl. Phys. Lett.
73
,
2920
(
1998
).
21.
C. D.
Theis
and
D. G.
Schlom
,
J. Vac. Sci. Technol. A
14
,
2677
(
1996
).
22.
L. R.
Doolittle
,
Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B
9
,
344
(
1985
).
23.
T.
Kinoshita
,
H. P. N. J.
Gunasekara
,
T.
Takata
,
S.
Kimura
,
M.
Okuno
,
Y.
Haruyama
,
N.
Kosugi
,
K. G.
Nath
,
H.
Wada
,
M.
Shiga
,
T.
Okuda
,
A.
Harasawa
,
H.
Ogasawara
, and
A.
Kotani
,
J. Phys. Soc. Jpn.
71
,
148
(
2002
).
24.
J.
Lee
,
P. I.
Rovira
,
I.
An
, and
R. W.
Collins
,
Rev. Sci. Instrum.
69
,
1800
(
1998
).
25.
B. D.
Johs
,
J. A.
Woollam
,
C. M.
Herzinger
,
J. N.
Hilfiker
,
R. A.
Synowicki
, and
C. L.
Bungay
,
Proc. SPIE
CR
72
,
29
(
1999
).
26.
Y.
Cong
,
I.
An
,
K.
Vedam
, and
R. W.
Collins
,
Appl. Opt.
30
,
2692
(
1991
).
27.
A. D.
Rakic
and
M. L.
Majewski
,
J. Appl. Phys.
80
,
5909
(
1996
).
28.
G. E.
Jellison
and
F. A.
Modine
,
Appl. Phys. Lett.
69
,
371
(
1996
).
29.
R. W.
Collins
and
A. S.
Ferlauto
, in
Handbook of Ellipsometry
, edited by
H. G.
Tompkins
and
E. A.
Irene
(
William Andrew
,
Norwich, New York
,
2005
), pp.
125
129
.
30.
H.
Fujiwara
,
J.
Koh
,
P. I.
Rovira
, and
R. W.
Collins
,
Phys. Rev. B
61
,
10832
(
2000
).
31.
J. I.
Pankov
,
Optical Processes in Semiconductors
(
Dover
,
New York
,
1975
), p.
37
.
32.
S.
Zollner
,
A. A.
Demkov
,
R.
Liu
,
P. L.
Fejes
,
R. B.
Gregory
,
P.
Alluri
,
J. A.
Curless
,
Z.
Yu
,
J.
Ramdani
,
R.
Droopad
,
T. E.
Tiwald
,
J. N.
Hilfiker
, and
J. A.
Woollam
,
J. Vac. Sci. Technol. B
18
,
2242
(
2000
).
33.
34.
D. B.
Ghosh
,
M.
De
, and
S. K.
De
,
Phys. Rev. B
70
,
115211
(
2004
).
You do not currently have access to this content.