Distributed Bragg reflectors with high reflectivity bands centered at wavelengths from 530 to 690 nm (green to red) based on AlP/GaP quarter-wave stacks are prepared on (001)GaP using gas-source molecular-beam epitaxy. Additionally, the complex refractive index of AlP is measured using spectroscopic ellipsometry within the range of 330–850 nm in order to facilitate an accurate reflector design. Structures consisting of 15 quarter-wave stacks reach a peak reflectance between 95% and 98%, depending on the spectral position of the maximum.

1.
K. J.
Vahala
,
Nature
424
,
839
846
(
2003
).
2.
K.
Iga
,
IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron.
6
,
1201
(
2000
).
3.
J. M.
Gérard
,
D.
Barrier
,
J. Y.
Marzin
,
R.
Kuszelewicz
,
L.
Manin
,
E.
Costard
,
V.
Thierry-Mieg
, and
T.
Rivera
,
Appl. Phys. Lett.
69
,
449
(
1996
).
4.
J.
Vučković
,
D.
Fattal
,
C.
Santori
,
G. S.
Solomon
, and
Y.
Yamamoto
,
Appl. Phys. Lett.
82
,
3596
(
2003
).
5.
D.
Delbeke
,
R.
Bockstaele
,
P.
Bienstman
,
R.
Baets
, and
H.
Benisty
,
IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron.
8
,
189
(
2002
).
6.
M. S.
Ünlü
and
S.
Strite
,
J. Appl. Phys.
78
,
607
(
1995
).
7.
J. G.
Neff
,
M. R.
Islam
,
R. V.
Chelakara
,
K. G.
Fertitta
,
F. J.
Ciuba
, and
R. D.
Dupuis
,
J. Cryst. Growth
145
,
746
(
1994
).
8.
J.-W.
Lee
,
A. T.
Schremer
,
D.
Fekete
,
J. R.
Shealy
, and
J. M.
Ballantyne
,
J. Electron. Mater.
26
,
1199
(
1997
).
9.
F.
Hatami
,
W. T.
Masselink
, and
L.
Schrottke
,
Appl. Phys. Lett.
78
,
2163
(
2001
).
10.
F.
Hatami
,
G.
Mussler
,
M.
Schmidbauer
,
W. T.
Masselink
,
L.
Schrottke
,
H.-Y.
Hao
, and
H. T.
Grahn
,
Appl. Phys. Lett.
79
,
2886
(
2001
).
11.
A. R.
Goñi
,
C.
Kristukat
,
F.
Hatami
,
S.
Dressler
,
W. T.
Masselink
, and
C.
Thomsen
,
Phys. Rev. B
67
,
075306
(
2003
).
12.
T.
Nguyen Thanh
,
C.
Robert
,
C.
Cornet
,
M.
Perrin
,
J. M.
Jancu
,
N.
Bertru
,
J.
Even
,
N.
Chevalier
,
H.
Folliot
,
O.
Durand
, and
A.
Le Corre
,
Appl. Phys. Lett.
99
,
143123
(
2011
).
13.
Y.
Song
,
P. J.
Simmonds
, and
M. L.
Lee
,
Appl. Phys. Lett.
97
,
223110
(
2010
).
14.
S.
Gerhard
,
S.
Kremling
,
S.
Höfling
,
L.
Worschech
, and
A.
Forchel
,
Nanotechnology
22
,
415604
(
2011
).
15.
F.
Hatami
,
W. T.
Masselink
,
H.
Kostial
,
V.
Lordi
, and
J. S.
Harris
,
J. Appl. Phys.
97
,
096106
3
(
2005
).
16.
F.
Hatami
,
W. T.
Masselink
, and
J. S.
Harris
,
Nanotechnology
17
,
3703
(
2006
).
17.
Y.
Song
and
M. L.
Lee
,
Appl. Phys. Lett.
100
,
251904
(
2012
).
18.
I.
Vurgaftman
,
J. R.
Meyer
, and
L. R.
Ram-Mohan
,
J. Appl. Phys.
89
,
5815
(
2001
).
19.
M.
Kumagai
,
T.
Takagahara
, and
E.
Hanamura
,
Phys. Rev. B.
37
,
898
(
1988
).
20.
M. P.
Semtsiv
,
U.
Müller
,
W. T.
Masselink
,
N.
Georgiev
,
T.
Dekorsy
, and
M.
Helm
,
Appl. Phys. Lett.
89
,
184102
(
2006
).
21.
B.
Monemar
,
Solid State Commun.
8
,
1295
(
1970
).
22.
Y. W.
Jung
,
J. S.
Byun
,
S. Y.
Hwang
,
Y. D.
Kim
,
S. H.
Shin
, and
J. D.
Song
,
Thin Solid Films
519
,
8027
(
2011
).
23.
J. M.
Rodrìguez
and
G.
Armelles
,
J. Appl. Phys.
69
,
965
(
1991
).
24.
Spectroscopic Ellipsometer Software, SpectraRay/3, Sentech Instruments GmbH, Germany (
2012
).
25.
G. E.
Jellison
, Jr.
,
Opt. Mater.
1
,
151
(
1992
).
27.
C.
Tanguy
,
P.
Lefebvre
,
H.
Mathieu
, and
R. J.
Elliott
,
J. Appl. Phys.
82
,
798
(
1997
).
28.
D. Y.
Smith
,
M.
Inokuti
, and
W.
Karstens
,
J. Phys.: Condens. Matter
13
,
3883
(
2001
).
29.
J.
Leng
,
J.
Opsal
,
H.
Chu
,
M.
Senko
, and
D. E.
Aspnes
,
Thin Solid Films
313–314
,
132
(
1998
).
30.
G. E.
Jellison
and
F. A.
Modine
,
Appl. Phys. Lett.
69
,
371
(
1996
).
31.
J.
Tauc
,
R.
Grigorovici
, and
A.
Vancu
,
Phys. Status Solid
15
,
627
(
1966
).
32.
S.
Shokhovets
,
G.
Gobsch
, and
O.
Ambacher
,
Phys. Rev. B.
74
,
155209
(
2006
).
33.
D. E.
Aspnes
and
A. A.
Studna
,
Phys. Rev. B
27
,
985
(
1983
).
You do not currently have access to this content.