A stochastic nonlinear electrical characteristic of graphene is reported. Abrupt current changes are observed from voltage sweeps between the source and drain with an on/off ratio up to 103. It is found that graphene channel experiences the topological change. Active radicals in an uneven graphene channel cause local changes of electrostatic potential. Simulation results based on the self-trapped electron and hole mechanism account well for the experimental data. Our findings illustrate an important issue of reliable electron transports and help for the understanding of transport properties in graphene devices.

1.
K. S.
Novoselov
,
A. K.
Geim
,
S. V.
Morozov
,
D.
Jiang
,
Y.
Zhang
,
S. V.
Dubonos
,
I. V.
Grigorieva
, and
A. A.
Firsov
,
Science
306
,
666
(
2004
).
3.
Y. B.
Zhang
,
Y. W.
Tan
,
H. L.
Stormer
, and
P.
Kim
,
Nature
438
,
201
(
2005
).
4.
C.
Berger
,
Z.
Song
,
T.
Li
,
X.
Li
,
X.
Wu
,
N.
Brown
,
C.
Naud
,
D.
Mayou
,
A. N.
Marchenko
,
E. H.
Conrad
 et al.,
Science
312
,
1191
(
2006
).
5.
Y. M.
Lin
,
C.
Dimitrakopoulos
,
K. A.
Jenkins
,
D. B.
Farmer
,
H. Y.
Chiu
,
A.
Grill
, and
P.
Avouris
,
Science
327
,
662
(
2010
).
6.
X. S.
Li
,
W. W.
Cai
,
J. H.
An
,
S. Y.
Kim
,
J. H.
Nah
,
D. X.
Yang
,
R.
Piner
,
A.
Velamakanni
,
I. H.
Jung
,
E.
Tutuc
 et al.,
Science
324
,
1312
(
2009
).
7.
S.
Bae
,
H.
Kim
,
Y.
Lee
,
X. F.
Xu
,
J. S.
Park
,
Y.
Zheng
,
J.
Balakrishnan
,
T.
Lei
,
H. R.
Kim
,
Y. I.
Song
 et al.,
Nat. Nanotechnol.
5
,
574
(
2010
).
8.
S.-K.
Lee
,
B. J.
Kim
,
H.
Jang
,
S. C.
Yoon
,
C.
Lee
,
B. H.
Hong
,
J. A.
Rogers
,
J. H.
Cho
, and
J.-H.
Ahn
,
Nano Lett.
11
,
4642
(
2011
).
9.
S.-K.
Lee
,
H. Y.
Jang
,
S.
Jang
,
E.
Choi
,
B. H.
Hong
,
J.
Lee
,
S.
Park
, and
J.-H.
Ahn
,
Nano Lett.
12
,
3472
(
2012
).
10.
W.
Yang
,
K. R.
Ratinac
,
S. P.
Ringer
,
P.
Thordarson
,
J. J.
Gooding
, and
F.
Braet
,
Angew. Chem., Int. Ed.
49
,
2114
(
2010
).
11.
F.
Schedin
,
A. K.
Geim
,
S. V.
Morozov
,
E. W.
Hill
,
P.
Blake
,
M. I.
Katsnelson
, and
K. S.
Novoselov
,
Nature Mater.
6
,
652
(
2007
).
12.
G.
Kalon
,
Y. J.
Shin
, and
H.
Yang
,
Appl. Phys. Lett.
98
,
233108
(
2011
).
13.
Y. J.
Shin
,
Y.
Wang
,
H.
Huang
,
G.
Kalon
,
A. T. S.
Wee
,
Z.
Shen
,
C. S.
Bhatia
, and
H.
Yang
,
Langmuir
26
,
3798
(
2010
).
14.
Y. J.
Shin
,
J. H.
Kwon
,
G.
Kalon
,
K. T.
Lam
,
C. S.
Bhatia
,
G.
Liang
, and
H.
Yang
,
Appl. Phys. Lett.
97
,
262105
(
2010
).
15.
T. J.
Echtermeyer
,
M. C.
Lemme
,
M.
Baus
,
B. N.
Szafranek
,
A. K.
Geim
, and
H.
Kurz
,
IEEE Electron Device Lett.
29
,
952
(
2008
).
16.
J.
Moser
,
A.
Barreiro
, and
A.
Bachtold
,
Appl. Phys. Lett.
91
,
163513
(
2007
).
17.
A.
Vijayaraghavan
,
K.
Kanzaki
,
S.
Suzuki
,
Y.
Kobayashi
,
H.
Inokawa
,
Y.
Ono
,
S.
Kar
, and
P. M.
Ajayan
,
Nano Lett.
5
,
1575
(
2005
).
18.
C. W.
Marquardt
,
S.
Dehm
,
A.
Vijayaraghavan
,
S.
Blatt
,
F.
Hennrich
, and
R.
Krupke
,
Nano Lett.
8
,
2767
(
2008
).
19.
Y.
Meir
and
N. S.
Wingreen
,
Phys. Rev. Lett.
68
,
2512
(
1992
).
20.
Y. J.
Shin
,
G.
Kalon
,
J.
Son
,
J. H.
Kwon
,
J.
Niu
,
C. S.
Bhatia
,
G. C.
Liang
, and
H.
Yang
,
Appl. Phys. Lett.
97
,
252102
(
2010
).
You do not currently have access to this content.